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日本MIC高精度超低电阻测量仪AE-1152D 自动测量超低电阻的理想之选 非常适合分流电阻器等的超低电阻测量。 取消热电动势效应的测量 脉冲测量电流，减少测量端子自热和磨损
更新日期：2024-03-20 访问量：1363
日本MIC超高精度数字电阻测试仪AE-173E 内置换档电磁阀电源：DC12V（2A）、24V（1A）/脉冲输出（2A） 内置无缺陷计数器
更新日期：2024-03-20 访问量：796
日本MIC超高精度、数字电阻检测仪AE-163L 超小尺寸芯片 （0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...） 兼容精密电阻！ 适用于 B、C、D、F、G、J、K 类、插入式、melf、径向和轴向电阻分选机和编带机
更新日期：2024-03-20 访问量：771
日本MIC超高精度、超精密电阻检测AE-163D 非常适合用于 B、C、D、F、G、J、K 级、插入、melph 、径向和轴向电阻器的分拣和编带机
更新日期：2024-03-20 访问量：775
日本MIC兼容超小芯片高精度、数字电阻检测器AE-162L D、F、G、J、K级超小尖头（0201、03015）兼容编带机 0201、03015尺寸超小型芯片兼容（测量功率0.02W以下/测量端子开路电压9V以下）
更新日期：2024-03-20 访问量：686
日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E 由于模数隔离提高了抗噪性，因此稳定性高 兼容极小的芯片（低功耗测量） 超高速 0.7msec.（代表值）
更新日期：2024-03-20 访问量：734
日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162D 适用于 D、F、G、J、K 级、芯片、melph、径向和轴向电阻器的分拣和编带机
更新日期：2024-03-20 访问量：728
日本imt独立负载型自动抛光机 Rana-3 Rana-3采用单独加载方式，可自由设置1-6个样品。 由于可以改变支架的转数，所以可以在相同的转数下对支架和盘进行抛光，并且抛光表面不会倾斜或变成铅笔状。 支架和圆盘都可以向前和向后旋转。
更新日期：2024-03-20 访问量：871
日本imt滚筒式样品抛光机SP-As1 / As2 用于安装抛光机 IM-P2 的滚筒式样品旋转机。 抛光非嵌入样品时，可将SP-As1连接到抛光机IM-P2上，实现自动抛光。 非常适合长时间低速包裹的样品。 也可提供与样品匹配的定制支架。
更新日期：2024-03-20 访问量：1065
日本imt实验抛光机组合IM-P2+SP-L1 用于安装抛光机 IM-P2 的样品旋转机。 抛光嵌入样品时，将 SP-L1 连接到抛光机 IM-P2 以启用自动抛光。 由于可以改变磁头转速，因此可以以相同的转速对支架和光盘进行抛光，防止抛光表面倾斜或变成铅笔状，并且可以在不失去平行度的情况下进行研磨。
更新日期：2024-03-20 访问量：875
日本imt台式样品抛光机 IM-P2 IM-P2是一款于手工抛光的抛光设备。通过改装样品旋转机也可以实现自动化。 工作台高度便于更换圆盘并用手抛光。 搭载了即使在高转速和低速范围内也能产生强大扭矩的电机！
更新日期：2024-03-20 访问量：883
低价纳米粒子生产设备 直流电弧电源300A，滤波器-1 片RP GHP-150与OMT，循环泵100L /分钟 皮拉尼真空计（PT-4P），安全阀 水冷电极（与W码片），纳米颗粒热交换器
更新日期：2024-03-20 访问量：1239
超细粒子/纳米粒子制造设备 超细粒子/纳米粒子制造装置的目的是通过在氢气（与氩气混合）或氮气等气体气氛中通过电弧熔化来强制蒸发材料以制造超细粒子/纳米粒子。它被开发出来。超细颗粒和纳米颗粒的目标材料范围很广，包括各种金属、合金和陶瓷。
更新日期：2024-03-20 访问量：1303
日本futaku零件喷嘴内表面无损测量仪Arasamir 对于医疗用分配喷嘴，如果用于预测试的样品保留在喷嘴内，则测试值将波动，并且无法进行准确的样品分析。 分配喷嘴所需的质量是在内表面没有划痕或不规则且没有残留物附着的喷嘴。
更新日期：2024-03-20 访问量：947
日本futaku精细零件无损探伤设备Clavelle Elephant 由于自动检查了放置在通用零件托盘上的微小零件的100，大大减轻了区分目视检查的负担，并提高了检查工作的效率，并且提高了鉴别精度并使其稳定。 它是紧凑型台式机，是各种小批量零件鉴别检查的理想选择。
更新日期：2024-03-20 访问量：846
