inglas反光片半球总发射率测量Tir-100-2

inglas反光片半球总发射率测量Tir-100-2

TIR 100-2型是一种紧凑型手持式分析仪器，采用无损技术测量秒。该设备可以测量从低到高发射率以及从光滑到纹理表面的各种材料。

TIR100-2具有二合一校准标准，具有超抛光铝的低发射率值侧（Ra＜10nm）以及由黑光阱组成的高发射率值侧：

二合一标准的校准范围通常从>96%（光阱）到~1%（铝），并且可追溯到主要标准/参考。校准证书由INGLAS颁发，有效期为两年。

TIR100-2和二合一校准标准可以安全地存储和运输在提供的可锁定和便携式硬质铝壳中

inglas反光片半球总发射率测量Tir-100-2

TIR100-2的一些应用：

-太阳能电池板涂层

-玻璃生产和涂料

-建筑业用箔材和涂料

-金属，如铝/锡/钢

-卫星

-汽车工业

-3D打印及其组件

-半导体

-大学/研发实验室

TIR100-2在以下内容中提及或符合以下内容

欧洲标准：

EN 673:2011-04：建筑玻璃，热透射率（U值）的测定——计算方法，2011年。

EN 12898:2001-04：建筑玻璃，发射率的测定，2001。

EN 16012-2015-05建筑隔热

EN 15976-2011-07防水柔性板

TIR100-2的原理

TIR100-2采用反射测量法测量定向总（接近法向）发射率。样品在100°C的温度下受到热辐射。黑体半球辐射器用于封装样品，以确保均匀照明。

以一定角度观察反射的红外辐射，并将其转换为数值。然后根据高发射率和低发射率参考标准的校准曲线绘制该值。然后，发射率的结果在TIR显示器上作为分数值给出。所有这些都只需轻轻一按按钮即可完成。