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日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162D

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更新日期:2020-12-11

简要描述:

日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162D
D,F,G,J,K类,切屑,熔体,径向和轴向电阻器的分拣机和编带机的理想选择

日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162D

日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162D

D,F,G,J,K类,切屑,熔体,径向和轴向电阻器的分拣机和编带机的理想选择

  • 由于从模拟到数字的隔离而提高了抗噪声能力,因此具有很高的稳定性
  • 与极小的芯片兼容(低功率测量)
  • 超高速0.7毫秒(代表值)
  • 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
  • 通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量
  • %测量:±99.99%[5mΩ-109MΩ]
  • 测量:0.00mΩ〜200.00MΩ
  • 接触检查:测量前/测量后/ OFF
  • RS-232C接口标准设备(GP-IB是可选的)
  • 打印机输出标准设备(与Centronics兼容)
  • 设置值传送功能作为标准设备:(相同的设置数据可以传送到另一台AE-162D并自动设置)
  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备

校准后180天[校准后1年:1.5倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162D

测量范围标准值设定范围实测电流测量精度*
快速
100毫欧5mΩ-100mΩ100毫安≤±0.02%±2a±2d≤±0.03%±3a±2d±[2 /(1 + n)] d
100.1mΩ〜1Ω100毫安在±0.02%±a±1d之内≤±0.02%±a±2d±[2 /(1 + n)] d
10Ω1.001Ω〜10Ω50毫安
100Ω10.01Ω-100Ω10毫安±0.02%±1d以内在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
1kΩ100.1Ω〜1kΩ5毫安
10kΩ的1.001kΩ〜10kΩ0.5毫安
100kΩ的10.01kΩ-100kΩ50微安
1兆欧100.1kΩ〜1MΩ5微安在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
10兆欧1.001MΩ〜10MΩ0.5微安±0.03%±1d以内在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之内
100兆欧10.01MΩ〜109MΩ0.05微安±0.1%±2d以内───

* D =数字,n =积分时间(毫秒),%测量:α=(100 /标准设定值mΩ)x 0.01%,值测量:α= 0(加±1d)
*完整屏蔽状态下的精度

测量时间外部启动自由奔跑
快速快速
大约18毫秒-400毫秒大约0.7毫秒-400毫秒约30次/秒〜
约2次/秒
约60次/秒〜
约2次/秒
测量端子开路电压15V以下
测量结束信号(EOC)脉冲宽度1到250毫秒,并且可以连续设置
测量方式4端子测量/ 2端子测量可切换
判断值设定范围%测量:±99.99%,值测量:00000-20000
周边环境温度:0°C至+ 50°C,湿度:80%以下
需要电源AC85V〜265V,50Hz〜60Hz,约50VA
外形尺寸333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量约3.5kg
选项・ GP-IB
・数据传输线
・短接(零欧姆标准电阻)
・转换适配器(3P x2⇒5P)

 

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