接触与非接触一键切换：Napson DUORES破解柔性电子与Low-E玻璃测量难题

发布日期：2026-03-05      浏览次数：9

在导电薄膜材料的研发与生产中，方阻（Sheet Resistance）测量是品质管控的关键一环。然而，面对日益多样化的材料体系——从硬质的ITO玻璃到柔软的金属纳米线薄膜，从高价值的Low-E镀膜玻璃到脆弱的石墨烯单层——传统的单一测量方式往往陷入两难：接触式测量精度高，却可能损伤样品；非接触式测量安全，却难以覆盖宽量程。

日本Napson公司推出的DUORES手持式面电阻测试仪，以独1创的“可替换双探头"设计，彻1底打破了这一僵局。

一机双探，精准应对两大测量难题

DUORES的核心创新在于将两种物理原理的测量技术集成于一台便携主机，用户可根据样品特性，在“接触"与“非接触"模式间一键切换。

解决痛点1：柔性电子材料的无损测量

随着可穿戴设备与柔性显示屏的发展，金属纳米线、金属网格、碳纳米管（CNT）及石墨烯等新型柔性导电材料成为研究热点。这类材料基底柔软、涂层极薄，传统四探针针尖极易划伤样品表面，造成不可逆的损坏。

• 应对方案：更换为非接触式探头（涡电流法）。探头无需接触样品，通过电磁感应即可完成测量，彻1底杜绝物理损伤。

• 应用价值：特别适合金属纳米银线薄膜、石墨烯等昂贵或脆弱材料的研发抽检与来料检验。

解决痛点2：Low-E玻璃及硬质镀层的快速品控

Low-E（低辐射）玻璃是建筑节能的核心材料，其上的多层金属或金属氧化物镀层直接决定了隔热性能。这类样品面积大、价值高，且要求快速响应。

• 应对方案：针对常规导电薄膜（如ITO、TCO），可使用高精度的接触式四探针探头，获得0.001-4000 Ω/sq的宽范围数据。

• 扩展能力：对于已安装的成品玻璃或怕划伤的涂层，同样可切换至非接触探头进行无损复检，实现“一台设备，覆盖全流程"。

技术亮点：不止于“双模"

除了核心的双探头设计，DUORES在用户体验上也做到了极1致：

• 自动测量，即放即得：当探头放置或接触样品时，设备自动启动测量，无需按键操作，极大提升检测效率。

• 超长续航，海量存储：电池模式下可连续工作24小时，满足整天产线巡查需求；机身可存储高达50,000组数据，并通过USB-Mini轻松导出。

• 灵活的单位显示：支持Ω/sq（方阻）、S/sq（电导）及n/m（金属膜厚度换算）三种单位，4位浮动小数点显示，数据直观。

规格参数速览

为了帮助您更直观地了解DUORES的测量能力，以下是其核心规格：

探头类型	测量原理	测量范围 （Ω/sq）	测量光斑	典型应用
非接触式探头	涡电流法	0.5 - 200	φ25mm	金属纳米线、金属网格、Low-E玻璃、脆性薄膜
接触式探头	四探针法	0.001 - 4000	9mm	ITO、TCO、碳纳米管、石墨烯、金属薄膜

• 主机尺寸与重量：W100 x D32 x H210 mm，约350g（不含电池），轻巧便携。

• 数据精度：接触式探头精度可达≦±0.5%；非接触式探头在0.5~100Ω/sq范围内重复性≦3.0%。

结语

在材料科学日新月异的今天，一台能“包容"不同材料的测试仪，无疑是实验室与产线的得力助手。Napson DUORES凭借其“接触与非接触一键切换"的独1创设计，真正实现了对从硬质玻璃到柔性薄膜、从高导电金属到半导体涂层的全覆盖测量。