seiwaopt硅晶片背面图案光源检测SIS-150 光学测量仪

seiwaopt硅晶片背面图案光源检测SIS-150 它非常适合无损检测，例如硅晶片的内部检查和背面图案的观察。

更新日期：2024-03-25    访问量：1294    

日本seiwaopt硅晶片内部检查光源SIS-150 光学测量仪

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更新日期：2024-03-25    访问量：1346    

日本seiwaopt非破坏性检查光源SIS-150 光学测量仪

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更新日期：2024-03-25    访问量：1254    

日本seiwaopt近红外光纤光源装置SIS-150 光学测量仪

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更新日期：2024-03-25    访问量：1256    

日本seiwaopt近红外线照射装置SIS-150 光学测量仪

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更新日期：2024-03-25    访问量：1217    

日本seiwaopt近红外卤素灯光源SIS-150

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更新日期：2025-05-02    访问量：1620    

SIS-150（-NIR / -AIR）日本seiwaopt近红外卤素灯光源 光学测量仪

日本seiwaopt近红外卤素灯光源SIS-150（-NIR / -AIR） 一种在近红外区域具有峰值的光纤光源设备。 通过将其与专yong光学系统和对近红外区域敏感的相机配合使用，它非常适合无损检测，例如Si晶圆的内部检测和背面图案的观察。

更新日期：2024-03-19    访问量：2014