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YP-150I/YP-250I日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯 光学测量仪
日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯YP-150I/YP-250I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2023-03-13 访问量：186
YP-150I/YP-250I日本yamada半导体行业用目视检查灯 光学测量仪
日本yamada半导体行业用目视检查灯YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。 因使用鹵素光源灯的光源，具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
更新日期：2023-03-13 访问量：131
日本yamada液晶面板检查灯YP-150I/YP-250I 光学测量仪
日本yamada液晶面板检查灯YP-150I/YP-250I 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中z費人工的成形製品表面 的異物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。
更新日期：2023-03-13 访问量：132
日本sena高照度目视检查灯100LE 高照度照明设备(表面检查灯) 185-LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片)、触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-03-13 访问量：130
日本sena手机屏幕检查灯370TFI/R 光源 直流点灯 17V/185W 卤素灯 照度调整 连续可调至大照度的 20%
更新日期：2023-03-13 访问量：139
日本sunenergy紫外线表面杀菌灯HSW系列 光学测量仪
日本sunenergy紫外线表面杀菌灯HSW系列 紫外线表面杀菌是用紫外线直接照射包装材料和食品，杀死附着在表面的细菌的方法。近年来，食品的卫生管理已成为一大课题，随着众多食品生产企业引入HACCP，“杀菌”已成为重要地位。使用紫外线的表面杀菌是可以满足这种需求的安全可靠的杀菌系统。
更新日期：2022-10-20 访问量：396
日本saga强光紫外线检查灯FLS-LED8UV-C 光学测量仪
日本saga强光紫外线检查灯FLS-LED8UV-C 由于照射位置可以自由改变和固定，因此可以用双手进行检查和工作。
更新日期：2022-10-11 访问量：428
日本saga固定型LED目视检查灯LH-LED20D 光学测量仪
日本saga固定型LED目视检查灯LH-LED20D 用于目视检查的固定式照明。 它可以均匀而有力地照明，过去使用大型照明设备或阳光进行的检查和检查可以在室内轻松进行。
更新日期：2022-10-11 访问量：367
JLS-ZLED20D日本saga带脚轮立式LED目视检查灯 光学测量仪
日本saga带脚轮立式LED目视检查灯JLS-ZLED20D 它可以均匀而有力地照明，过去使用大型照明设备或阳光进行的检查和检查可以在室内轻松进行。
更新日期：2022-10-11 访问量：383
日本saga灯架型LED目视检查灯ZLS-LED20D 光学测量仪
日本saga灯架型LED目视检查灯ZLS-LED20D 用于目视检查的立式照明。 由于照射位置可以自由改变和固定，因此可以用双手进行检查和工作。
更新日期：2022-10-11 访问量：376
FLS-LED20D-C日本saga柔性臂式LED目视检查灯 光学测量仪
日本saga柔性臂式LED目视检查灯FLS-LED20D-C 用于视觉检查照明的灵活臂类型。 由于照射位置可以自由改变和固定，因此可以用双手进行检查和工作。
更新日期：2022-10-11 访问量：393
LB-LED12D-FL-Ra日本saga无线型LED目视检查灯 光学测量仪
日本saga无线型LED目视检查灯LB-LED12W-FL-Ra 用于目视检查的可调光无绳照明。 采用高输出LED和特殊透镜，充分发挥LED特性的工作灯。
更新日期：2022-10-11 访问量：382
LB-LED12W-FL-Ra日本saga无线型LED高输出目视检查灯 光学测量仪
日本saga无线型LED高输出目视检查灯LB-LED12W-FL-Ra 它可以均匀而有力地照明，过去使用大型照明设备或阳光进行的检查和检查可以在室内轻松进行。 此外，即使在无法带入大型照明设备的场所，也可以明亮地进行作业和检查。
更新日期：2022-10-11 访问量：361
SL-LED20W-FL日本saga手持式LED目视检查灯 光学测量仪
日本saga手持式LED目视检查灯SL-LED20W-FL / SL-LED20W-FL-Ra 用于目视检查的手型照明。 采用高输出LED和特殊透镜，充分发挥LED特性的工作灯。
更新日期：2022-10-11 访问量：377
日本bluevision样品异物污染检查灯BV-M1020 光学测量仪
日本bluevision样品异物污染检查灯BV-M1020 在分光成像中，通过测量物质对光的反应，即任意波长的物质的反射光、透射光和吸收光的差异，可以检查各种物体是否有异物污染、划痕，内部条件等。使之成为可能。
更新日期：2022-09-27 访问量：348
