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shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 光学测量仪
shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量
更新日期：2023-11-13 访问量：143
shibuya曲面反射率测量装置MSP-100 以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量
更新日期：2023-11-13 访问量：116
ccsawaki反射率/透射率测量的光源FOLS-05 FOLS-05是一种光纤输出宽带光源，通过将三种类型的LED元件组合成一根光纤来输出它们。
更新日期：2023-11-13 访问量：122
日本p gauges光纤耦合LED光源LDS1007 光学测量仪
日本p gauges光纤耦合LED光源LDS1007 LDS1007是一款紧凑、轻便、低成本的LED光源，将光纤耦合高输出LED与电源和驱动电路相结合。 无需调整，LED灯在电源打开后立即从光纤端输出。
更新日期：2023-11-09 访问量：109
koshin kogaku可调谐激光器KLS-201A系列 光学测量仪
koshin kogaku可调谐激光器KLS-201A系列 标准型号，除了O波段到U波段之外，还覆盖1220nm波段（波长安装分辨率：0.1nm）
更新日期：2023-11-03 访问量：186
koshin kogaku半导体激光光源KLS-601A系列 光学测量仪
koshin kogaku半导体激光光源KLS-601A系列 该产品是一种亚纳秒Nd：YAG脉冲激光器，振荡波长为1064 nm。
更新日期：2023-11-03 访问量：139
koshin kogaku可调谐激光器KLS-601A系列 光学测量仪
日本optoquest微芯片激光器 该产品是一种亚纳秒Nd：YAG脉冲激光器，振荡波长为1064 nm。
更新日期：2023-11-03 访问量：141
日本sena TFT透镜表面检查灯185LE-AL 光学测量仪
日本sena TFT透镜表面检查灯185LE-AL 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-09-21 访问量：209
日本sena TFT面板目视检查灯185LE-AL 光学测量仪
日本sena TFT面板目视检查灯185LE-AL 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-09-21 访问量：221
日本sena玻璃基板目视检查灯185LE-AL 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-09-21 访问量：194
日本sena目视晶圆检查灯185LE-AL 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-09-21 访问量：213
日本sena彩色滤光片检查灯185LE-AL 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-09-21 访问量：200
林时计特殊图像处理近红外光源LA-100IR LA-100IR是一种光源，仅输出卤素灯的近红外波长。 它具有内置的IR80滤光片，在不发射可见光的情况下发射近红外光（800-1，100nm）。 该光源非常适合使用红外波段的各种应用、物理和化学实验、夜视观察、特殊图像处理等。
更新日期：2023-09-18 访问量：207
林时计光纤光导光源LA-100IR 光学测量仪 LA-100IR是一种光源，仅输出卤素灯的近红外波长。 它具有内置的IR80滤光片，在不发射可见光的情况下发射近红外光（800-1，100nm）。 该光源非常适合使用红外波段的各种应用、物理和化学实验、夜视观察、特殊图像处理等。
更新日期：2023-09-18 访问量：200
林时计图像处理照明光源装置LA-100IR LA-100IR是一种光源，仅输出卤素灯的近红外波长。 它具有内置的IR80滤光片，在不发射可见光的情况下发射近红外光（800-1，100nm）。 该光源非常适合使用红外波段的各种应用、物理和化学实验、夜视观察、特殊图像处理等。
更新日期：2023-09-18 访问量：189
