shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 光学测量仪
shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量
更新日期:2023-11-13 访问量:143
shibuya曲面反射率测量装置MSP-100 以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量
更新日期:2023-11-13 访问量:116
ccsawaki反射率/透射率测量的光源FOLS-05 FOLS-05是一种光纤输出宽带光源,通过将三种类型的LED元件组合成一根光纤来输出它们。
更新日期:2023-11-13 访问量:122
日本p gauges光纤耦合LED光源LDS1007 光学测量仪
日本p gauges光纤耦合LED光源LDS1007 LDS1007是一款紧凑、轻便、低成本的LED光源,将光纤耦合高输出LED与电源和驱动电路相结合。 无需调整,LED灯在电源打开后立即从光纤端输出。
更新日期:2023-11-09 访问量:109
koshin kogaku可调谐激光器KLS-201A系列 光学测量仪
koshin kogaku可调谐激光器KLS-201A系列 标准型号,除了O波段到U波段之外,还覆盖1220nm波段(波长安装分辨率:0.1nm)
更新日期:2023-11-03 访问量:186
koshin kogaku半导体激光光源KLS-601A系列 光学测量仪
koshin kogaku半导体激光光源KLS-601A系列 该产品是一种亚纳秒Nd:YAG脉冲激光器,振荡波长为1064 nm。
更新日期:2023-11-03 访问量:139
koshin kogaku可调谐激光器KLS-601A系列 光学测量仪
日本optoquest微芯片激光器 该产品是一种亚纳秒Nd:YAG脉冲激光器,振荡波长为1064 nm。
更新日期:2023-11-03 访问量:141
日本sena TFT透镜表面检查灯185LE-AL 光学测量仪
日本sena TFT透镜表面检查灯185LE-AL 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2023-09-21 访问量:209
日本sena TFT面板目视检查灯185LE-AL 光学测量仪
日本sena TFT面板目视检查灯185LE-AL 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2023-09-21 访问量:221
日本sena玻璃基板目视检查灯185LE-AL 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2023-09-21 访问量:194
日本sena目视晶圆检查灯185LE-AL 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2023-09-21 访问量:213
日本sena彩色滤光片检查灯185LE-AL 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2023-09-21 访问量:200
林时计特殊图像处理近红外光源LA-100IR LA-100IR是一种光源,仅输出卤素灯的近红外波长。 它具有内置的IR80滤光片,在不发射可见光的情况下发射近红外光(800-1,100nm)。 该光源非常适合使用红外波段的各种应用、物理和化学实验、夜视观察、特殊图像处理等。
更新日期:2023-09-18 访问量:207
林时计光纤光导光源LA-100IR 光学测量仪 LA-100IR是一种光源,仅输出卤素灯的近红外波长。 它具有内置的IR80滤光片,在不发射可见光的情况下发射近红外光(800-1,100nm)。 该光源非常适合使用红外波段的各种应用、物理和化学实验、夜视观察、特殊图像处理等。
更新日期:2023-09-18 访问量:200
林时计图像处理照明光源装置LA-100IR LA-100IR是一种光源,仅输出卤素灯的近红外波长。 它具有内置的IR80滤光片,在不发射可见光的情况下发射近红外光(800-1,100nm)。 该光源非常适合使用红外波段的各种应用、物理和化学实验、夜视观察、特殊图像处理等。
更新日期:2023-09-18 访问量:189