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  • 日本daiei大荣科学测厚仪FS-60DS

    日本daiei大荣科学测厚仪FS-60DS 一种测量织物、地板覆盖物、薄膜、橡胶、聚氨酯泡沫等厚度的设备。

    更新日期:2021-08-11    访问量:91    

  • OZUMA22半导体用金属非接触式测厚仪

    日本sasaki koki半导体用金属非接触式测厚仪OZUMA22 精确控制上、下测量喷嘴的背压,喷嘴定位使喷嘴与被测物体之间的间隙恒定,并与预先用基准规校准的值进行比较计算处理对被测物体进行测量操作,可精确计算厚度。

    更新日期:2021-07-22    访问量:98    

  • OZUMA22半导体晶体非接触式测厚仪

    日本sasaki koki半导体晶体非接触式测厚仪OZUMA22 OZUMA 更新了用于半导体晶片(Si 硅晶片、GaAs、砷化镓 Ga)、砷(As)、玻璃、金属等的高精度非接触式厚度测量装置(非接触式厚度测量装置) . 非接触式测厚仪OZUMA22用于控制半导体晶片(Si硅晶片、GaAs、镓(Ga)砷(As))在背面抛光过程中,或在每个制造过程中的厚度(厚度)。可用于(厚度)控制的非接触式测量。

    更新日期:2021-07-02    访问量:87    

  • 日本olympus磁性测厚仪Magna-Mike 8600

    日本olympus磁性测厚仪Magna-Mike 8600 玛格纳-麦克8600是一个简单的磁性测厚仪,可以重复地测量非磁性材料以高准确度的壁厚。操作非常简单,小球或盘称为目标材料,电线,放置在或在测量对象一侧上,通过在接触与磁性探测从相反侧你扫描,以夹住工件。使用霍尔效应测量探针和靶材料,并实时显示一个大的显示器上的测量值之间的距离的传感器。

    更新日期:2021-07-01    访问量:98    

  • 日本olympus超声波测厚仪38DL PLUS

    日本olympus超声波测厚仪38DL PLUS 创新的 38DL PLUS 预示着超声波测厚仪的新时代。该手持式测厚仪适用于大多数超声波壁厚测量的检测应用,可与双振型探头和单振型探头的所有探头配合使用。38DL PLUS 可用于广泛的应用,从使用双振荡器型探头对内部腐蚀管道的减薄测量到使用单振荡器型探头对薄或多层材料的精确厚度测量。

    更新日期:2021-07-01    访问量:85    

  • 日本olympus超声波测厚仪 45MG

    日本olympus超声波测厚仪 45MG 45MG是一款高性能超声波测厚仪,除了标准的腐蚀测厚功能外,还支持各种软件选项的精密测厚。它是一种一体化解决方案,通过支持奥林巴斯双振荡器和单振荡器厚度测量探头,可用于广泛的应用。

    更新日期:2021-07-01    访问量:97    

  • 日本olympus超声波测厚仪27MG

    日本olympus超声波测厚仪27MG 超声波测厚仪27MG可以从一侧准确测量金属管道、罐体和其他易受腐蚀和侵蚀的设备结构的壁厚减薄。它仅重 340 克,符合人体工程学设计,单手操作更方便。

    更新日期:2021-07-01    访问量:115    

  • 在线激光测厚装置NME-RM, NSM-RM

    日本YAMABUN山文电气在线激光测厚装置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多层/薄膜/片材的理想选择 以非接触方式测量厚度而非基重 座椅制造过程中的全宽测量 无需许可证、许可证或创建校准曲线即可轻松操作

    更新日期:2021-06-25    访问量:106    

  • 适用于钢板和铝板等的台式测厚仪TOF-M

    日本YAMABUN山文电气适用于钢板和铝板等的台式测厚仪TOF-M 测量切割成条状的钢板和铝板等金属板的厚度波动 通过自动传输机制实现稳定的测量重复性 测量数据可自动保存在个人电脑上

    更新日期:2021-06-24    访问量:160    

  • 台式离线分光干涉式测厚仪TOF-S

    日本YAMABUN山文电气台式离线分光干涉式测厚仪TOF-S 实现高测量重复性(± 0.01 μm 或更小,取决于对象和测量条件) 不易受温度变化的影响 可以生产用于研究和检查的离线式和在制造过程中使用的在线式。 反射型允许从薄膜的一侧进行测量 仅可测量透明涂膜层(取决于测量条件)

    更新日期:2021-06-24    访问量:86    

  • 软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2

    日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2 高测量分辨率 由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。 即使表面状况粗糙,也可以进行测量。 基重测量 操作简单(具有自动介电常数设置功能)

    更新日期:2021-06-24    访问量:90    

  • TOF-4R05台式离线接触式测厚仪TOF-6R001

    日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-6R001 模型TOF-6R001 测量方法接触式/线性规 测量对象薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等) 测量原理线规

    更新日期:2021-06-24    访问量:82    

  • TOF-4R05台式离线接触式测厚仪TOF-5R01

    日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-5R01 简单快速的离线厚度测量 测量数据实时显示在屏幕上 测量数据可自动保存在个人电脑上 由于是自动运输测量,测量数据不存在个体差异。 也可用于调整雷达图上的充气膜。

    更新日期:2021-06-24    访问量:50    

  • TOF-4R05台式离线接触式测厚仪

    日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-4R05 简单快速的离线厚度测量 测量数据实时显示在屏幕上 测量数据可自动保存在个人电脑上

    更新日期:2021-06-24    访问量:64    

  • MP0R-FP双范围MP0R袖珍型双紧凑型薄膜测厚仪

    日本fischer双范围MP0R袖珍型双紧凑型薄膜测厚仪MP0R-FP DUALSCOPE ® MP0R / MP0R-FP 便于携带的袖珍型小型膜厚计。通过在电磁型和涡流型之间自动切换,可以测量磁性和非磁性材料的各种膜厚。

    更新日期:2021-06-08    访问量:48    

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