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更新日期:2024-03-25 访问量:930
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日本chino光学干涉涂层测厚仪 IRMS8599S IRMS8599将光投射到要测量的薄膜上,并测量表面反射光和反射背上反射光引起的干涉厚度。
更新日期:2024-03-24 访问量:829