产品展示
PRODUCT DISPLAY
产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > 物理性能检测 > 厚度检测 >日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851

日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851

访问次数:131

更新日期:2020-12-28

简要描述:

日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851
配备自动对焦
选择两种测量模式以使测量工作更顺畅

日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851
类型数字式测量范围1

 日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851

配备自动对焦
选择两种测量模式以使测量工作更顺畅

・自动测量模式
⇒将要测量的物体放在激光笔照射位置,关门时,载物
 台将自动移动并自动进行测量。
-手动测量模式
⇒类似于上面的自动测量模式,当设置了要测量的物体并且
 门关闭时,载物台会自动移动甚至聚焦

荧光X射线膜测厚仪EX-851的特点

多测量/多校准线

记录坐标并从激光指示器的照射位置自动测量多个点。
可以使用不同的校准线测量多个点。

自动对焦

只需将测量单元对准激光指示器的位置,然后关上门即可自动移至测量值并执行测量。
测量后,打开门,载物台将自动返回到前面。

采用双重过滤器

通过使用除中性过滤器之外的机械过滤器(双重过滤器),可以在z佳条件下进行测量,从而始终获得z高的精度。

增强的报告创建功能

通过采用MS-Windows软件,您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。
使用多任务功能,即使在测量过程中,也可以进行包括报告创建在内的其他处理。

内置5种准直仪

z小准直仪为0.1φmm,可测量极小的零件。
标准0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外,有两种特殊规格可供选择。
・ 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
・ 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

自诊断功能会立即采取措施解决设备问题。
另外,增加了X射线管的使用时间和耐用时间显示功能,以确保维护安全。

膜厚测量中的频谱显示

多通道光谱分析高速处理使简单的操作可以显示被测物体的光谱。(处理速度约2至3秒)

显示测量单元监控图像

将X射线照射部件导入Windows屏幕并显示X射线照射部件。
准直仪实现改变尺寸的放大率改变功能。

可视化显示被测物的镀层附着力分布

3D图形显示使您可以一目了然地检查被测物体的镀层厚度分布。

Be窗口X射线管(选件)提高的性能(高精度)

我们已经为荧光X射线胶片厚度计准备了Be窗口X射线管。

通过使用Be窗口X射线管,显着提高了Cr测量和Ni测量的重复测量精度。

与标准X射线管的比较

高能量(高原子序数)Sn等的测量与以前相同。

当测量低能量(低原子序数)的Cr和Ni时,重复精度提高了Cr约3倍,Ni约2倍。

当测量两层时,中间层Ni的测​​量精度提高了约20%。

通过使用Be窗X射线管,在Cr的情况下,与常规标准机器相比,可以获得约9倍或更大的荧光X射线强度。

因此,可以在短时间内以与以前相同的精度进行测量。

请考虑使用此Be窗口X射线管。

  日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851

荧光X射线膜厚计EX-851的规格

EX-851

测量台尺寸(mm)

200 x 200

运动量

X(毫米)

200

Y(毫米)

200

Z(毫米)

90

被测物高度(mm)

90

尺寸(毫米)

740(W)x 530(D)x 660(H)*不包括突起

重量(公斤)

85

样品负荷(公斤)

1个

电脑

尺寸(毫米)

主机182(W)x 383(D)x 372(H)
监视器412(W)x 415(D)x 432(H)

重量(公斤)

主机6.8 /显示器2.8

打印机

重量(公斤)

3.4 3.4

电源供应

AC100V±10V

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
联系方式
  • 电话

  • 传真

在线交流