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更新日期：2024-03-19
简要描述：
日本Japan Sensor薄膜辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列胶片辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列是专门用于胶片的辐射温度计。测量波长主要适合于聚烯烃膜的温度测量。
| 类型 | 其他 | 测量范围 | 1 |
|---|
日本Japan Sensor薄膜辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列
胶片辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列是专门用于胶片的辐射温度计。测量波长主要适合于聚烯烃膜的温度测量。
专门用于胶片的辐射温度计。测量波长主要适合于聚烯烃膜的温度测量。
〜TMHX-C系列的共同特征〜
◆性能和稳定性大大提高◆易于对准测量部件◆任何安装环境◆
各种各样的指示器和设置装置◆降低成本◆使用寿命长◆符合CE标记的产品
| 模型 | 温度范围 | 有效波长 | 实测距离 | 目标尺寸 | 反应速度 |
|---|---|---|---|---|---|
| TMHX-CFE0350-0200E012 | 80-350℃ | 3.4微米 | 200毫米 | φ12毫米 | 0.05秒〜 |
塑料薄膜是一种选择性辐射体，其透射和吸收（辐射）在特定波长下会发生显着变化。由于在具有高透射率的波长处发射率低，因此不能很好地执行温度测量。
因此，有必要在吸收（辐射）大的波长=吸收波长带中进行测量。
TMHX-CFE0350（E）系列使用3.4μm聚烯烃薄膜的吸收波段作为测量波长，以实现高精度的温度测量。
（聚烯烃膜=氯乙烯，聚乙烯，聚丙烯，聚苯乙烯等）
传统的热电堆元件将红外线转换成热量，然后将其转换成电信号，因此缩短响应时间是有限制的，但是TMHX系列使用InSb（锑化铟）元件直接转换红外线，直接转换为信号。 。在室温测量中，实现了世界上z快的响应时间，并且显着缩短了测量时间。
它还具有显着提高的稳定性。由于InSb（锑化铟）元素使用2至6.8μm之间的短波长，因此在测量金属（铁，SUS，铬等）的温度时，可以预期其发射率设定值几乎是以前的两倍。 ，可以期待进一步的稳定性。
日本Japan Sensor薄膜辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列
| 模型 | TMHX-CFE0350-0200E012 |
|---|---|
| 温度范围 | 80℃〜350℃ |
| 有效波长 | 3.4微米 |
| 检测元件 | 铟锑 |
| 标准测量距离 | 200mm *可以在其他距离使用。请参考光路图。 |
| 标准目标尺寸 | φ12毫米 |
| 目的 | LED瞄准 |
| 准确率评估 | ±4℃ |
| 重现性 | ±1℃ |
| 测量分辨率 | 小于120℃；小于等于1℃，大于等于120℃；小于等于0.5℃ |
| 响应时间（随平滑功能而变化） | 0.05-5s（0-95％模拟输出） |
| 热身时间 | 1分钟 |
| 模拟量输出（非绝缘）输出类型（开关） | DC4〜20mA，DC0〜20mA，mV /℃，DC0〜1V（可选0〜5V，0〜10V可用） |
| RS232C输出（符合RS232C，非绝缘） | 输出摆幅：大约±4V，通讯速度：4800,9600,19200,38400,57600,115200 bps |
| 报警输出（非绝缘） | 开漏：DC27V，0.2A |
| 峰值保持 | 复位方法（选择）[1]时间：0.01到10s变量[2]放电：时间0.01到10s，级别0.2到1.0 |
| 发射率校正 | 保证范围0.3到1.0 设置范围0.050到1.000（设置分辨率0.001）带有 反射校正功能 |
| 传感器校正功能 | 跨度; 0.500至2.000 零; -50至+ 50°C（°F） |
| 使用的环境温度和湿度 | 0至50°C（存储环境温度：-15至70°C）/ 30至85％RH（无冷凝） |
| 电源电压 | DC4.7至27V，z大0.1A 模拟输出0至5V; 8至27V / 0至10V ; 13至27V |
| 电缆长度（标准） | 2m |
| 方面 | HX-C1 |
