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日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160

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更新日期:2021-04-14

简要描述:

日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
OURSTEX 160型被选为东京都政fu于2006年3月执行的《环境安全条例》中用于土壤污染调查(重金属等)的简单快速分析技术(简单分析方法)。

日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
产品种类便携

日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160

OURSTEX 160型被选为东京都政fu于2006年3月执行的《环境安全条例》中用于土壤污染调查(重金属等)的简单快速分析技术(简单分析方法)。

 

 ■用于工厂现场的土壤分析...  ●可以进行无损且快速的成分分析。 ●紧凑轻巧,因此可以进行现场分析。 ●提高了针对中,重金属元素的灵敏度。 ●Utility仅适用于AC100V-5A。 ●设备内部是受控区域。

元素技术的结晶/高灵敏度和高精度

能量色散X射线荧光分析仪用来自X射线管的原始X射线辐照样品,并使用半导体检测器测量产生的X射线荧光,因此无论样品的形状如何,它都是非破坏性的元素定性的。样品。・进行定量分析。
半导体检测器使用不需要液氮冷却的电子冷却的硅漂移检测器(SDD),并且可以与数字计数电路(DSP)结合使用以测量高分辨率和高计数率。
为了提高分析性能,准备了可以使能量分辨率和半导体检测器的计数灵敏度z大化的激发光学系统的条件。

应用实例

  • 同时分析碘化铯(CsI)化合物中的碘(I)和铯(Cs)
  • 焚烧灰分的分析实例
  • 水泥分析实例
  • 采石场的土石,沙砾和碎石现场分析示例
  • 铝合金中镁的测量示例(每种类型)
  • 农yao污染土壤的分析
  • 工业废物分析
  • 土壤中有害重金属元素的分析
  • 石油中的硫分析
  • 新型固体燃料RPF分析

日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160

OURSTEX 160规格

 

测量原理 能量色散X射线荧光分析方法
测量目标 用于土壤分析的环境样品(固体/粉末/液体)
测量元件 硫,铬,砷,硒,镉,汞,铅(13 AI- 92 U)
样品形状 z大78mmφx 55mmH
样品室气氛 气氛
X射线额定输出 48kV,2mA高达50W
探测器 电子冷却的硅漂移检测器
计数电路 数字处理方式
使用条款 温度:5至27°C
 湿度:20至75%
 电源:AC100V,5A(50 / 60Hz)
 接地:D类接地
其他(可选) 喷墨彩色打印机,鼠标

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