日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160

日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160

OURSTEX 160型被选为东京都政fu于2006年3月执行的《环境安全条例》中用于土壤污染调查（重金属等）的简单快速分析技术（简单分析方法）。

　■用于工厂现场的土壤分析... 　●可以进行无损且快速的成分分析。　●紧凑轻巧，因此可以进行现场分析。　●提高了针对中，重金属元素的灵敏度。　●Utility仅适用于AC100V-5A。　●设备内部是受控区域。

元素技术的结晶/高灵敏度和高精度

能量色散X射线荧光分析仪用来自X射线管的原始X射线辐照样品，并使用半导体检测器测量产生的X射线荧光，因此无论样品的形状如何，它都是非破坏性的元素定性的。样品。・进行定量分析。
半导体检测器使用不需要液氮冷却的电子冷却的硅漂移检测器（SDD），并且可以与数字计数电路（DSP）结合使用以测量高分辨率和高计数率。
为了提高分析性能，准备了可以使能量分辨率和半导体检测器的计数灵敏度z大化的激发光学系统的条件。

应用实例

• 同时分析碘化铯（CsI）化合物中的碘（I）和铯（Cs）
• 焚烧灰分的分析实例
• 水泥分析实例
• 采石场的土石，沙砾和碎石现场分析示例
• 铝合金中镁的测量示例（每种类型）
• 农yao污染土壤的分析
• 工业废物分析
• 土壤中有害重金属元素的分析
• 石油中的硫分析
• 新型固体燃料RPF分析

日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160

OURSTEX 160规格