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手持式探针的电阻测量仪EC-80P

访问次数:23

更新日期:2021-07-15

简要描述:

日本napson手持式探针的电阻测量仪EC-80P
使用手持式探针的手动无损(涡流法)电阻测量仪

手持式探针的电阻测量仪EC-80P

日本napson手持式探针的电阻测量仪EC-80P

使用手持式探针的手动无损(涡流法)电阻测量仪

产品特点

  • 只需触摸手持式探头即可测量电阻。
  • 在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换
  • 使用JOG拨盘轻松设置测量条件
  • 连接到连接器的可替换电阻测量探头可支持多种电阻
  • (电阻探头:z多可以使用2 + PN判断探头)

测量规格

测量目标

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延,离子与
半导体相关的进样样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请与我们联xi)

测量尺寸

无论样品大小和形状如何均可进行测量(但是,大于20mmφ且表面平坦)

日本napson手持式探针的电阻测量仪EC-80P

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[板电阻] 10m至3kΩ / sq
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
(5)太阳能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)

 

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