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日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E

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更新日期:2021-07-29

简要描述:

日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
由于模数隔离提高了抗噪性,因此稳定性高
兼容极小的芯片(低功耗测量)
超高速 0.7msec.(代表值)

日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E

日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
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适用 D、F、G、J、K 级、芯片、melph、径向和轴向电阻器的分拣和编带机

  • 由于模数隔离提高了抗噪性,因此稳定性高

  • 兼容极小的芯片(低功耗测量)

  • 超高速 0.7msec.(代表值)

  • 由于热电动势抵消测量的高精度和高稳定性

  • 通过各量程的测量值积分时间设定功能,实现超高速、高稳定性的测量

  • % 测量:± 99.99% [5mΩ-109MΩ]

  • 绝对测量:0.00mΩ~200.00MΩ

  • 接触检查:可选择测量前/测量后/OFF

  • RS-232C接口标准设备(GP-IB可选)

  • 打印机输出标准设备(符合 Centronics)

  • 标配设定值传输功能:(将相同的设定数据传输至另一台AE-162D并可自动设定)

  • 测量电流/测量电压异常检查电路标准设备


日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C),校准后180天[校准后1年:1.5次]
测量范围标准值设定范围测量电流测量精度*
快速地
100mΩ5mΩ-100mΩ100mA± 0.02% ± 2a ± 2d± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100.1mΩ~1Ω100mA±0.02%±a±1d以内± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω1.001Ω~10Ω50mA
100Ω10.01Ω-100Ω10mA±0.02%±1d以内± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ100.1Ω~1kΩ5mA
10kΩ1.001kΩ~10kΩ0.5mA
100kΩ10.01kΩ-100kΩ50μA
1兆欧100.1kΩ~1MΩ5μA± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ1.001MΩ ~ 10MΩ0.5μA±0.03%±1d以内± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ10.01MΩ ~ 109MΩ0.05μA±0.1%±2d以内────
* D = 位数,n = 积分时间(毫秒),% 测量值:α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%,绝对值测量值:α = 0 (add ± 1d)
* 屏蔽状态下的完全精度
测量时间外部启动自由奔跑
快速地快速地
大约 18 毫秒-400 毫秒。大约 0.7 毫秒-400 毫秒。约30次/秒~
约2次/秒
约60次/秒~
约2次/秒
测量端子开路电压15V以下
测量结束信号(EOC)脉宽1 至 250 毫秒,可连续设定
测量方法4端测量/2端测量可切换
判断值设定范围%测量:±99.99%,绝对值测量:00000-20000
周边环境温度:0℃~+50℃,湿度:80%以下
需要电源AC85V~265V,50Hz~60Hz,约50VA
外形尺寸333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡胶脚垫等突出部分)
重量约3.5kg
选项・ GP-IB
・ 数据传输线
・ 短接(零欧姆标准电阻)
・ 转换适配器(3P x 2⇒5P)

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