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日本MIC超高电阻测试仪AE-1644E

访问次数:99

更新日期:2021-07-29

简要描述:

日本MIC超高电阻测试仪AE-1644E
非常适合安装 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、轴向型
超高电阻机器分拣机、激光和切割机型修边机

日本MIC超高电阻测试仪AE-1644E

日本MIC超高电阻测试仪AE-1644E
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  • 噪声误差少的高速积分方式(可针对各量程设定积分时间)

  • 参考电阻值 4 位数字设置允许百分比测量 (± 50.00%)

  • 可修剪模式

  • 比较器判断结果可以是集电极开路输出、LED显示和蜂鸣器声音

  • 可以联系检查

  • RS-232C接口标准设备(GP-IB/Centronics输出可选)

  • 内置换档电磁阀电源(选项)【DC12V(2A)/24V(1A)/脉冲输出(2A)】


日本MIC超高电阻测试仪AE-1644E

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
测量范围测量范围测量精度
测量电压 H测量电压 L
100kΩ5.00kΩ 至 150.00kΩ15V± 0.03% ± 1 位 [读数的 ± 0.1% ± 1 位]15V± 0.03% ± 1 位 [读数的 ± 0.1% ± 1 位]
1兆欧50.0kΩ ~ 1500.0kΩ
10MΩ0.500MΩ 至 15.000MΩ
100MΩ5.00MΩ 至 150.00MΩ100V± 0.05% ± 1 位 [读数的 ± 0.2% ± 1 位]15V± 0.3% ± 1 位 [读数的 ± 1.2% ± 1 位]
1 GΩ50.0MkΩ 至 1500.0MΩ
10GΩ0.500GΩ 至 15.000GΩ100V± 0.2% ± 1 位 [读数的 ± 0.5% ± 1 位]15V± 1.2% ± 2 位 [读数的 ± 1.5% ± 1 位]
100 GΩ5.00GΩ 至 150.00GΩ200V± 0.5% ± 2 位 [读数的 ± 0.8% ± 2 位]15V± 1.5% ± 2 位 [读数的 ± 2.0% ± 2 位]
1TΩ50.00GΩ ~ 1500.0GΩ200V± 0.1% ± 4 位 [读数的 ± 1.5% ± 4 位]无法选择
测量值显示范围% 测量:± 50.00%
欧姆测量:500~15000
测量方法恒压测量[可通过2端子测量进行接触检查]
测量时间(将被测物体连接到测量端子后,经过足够的稳定时间后输入开始信号)
【外部启动积分时间】
[FAST] 1 ~ 29msec.(可设置为1msec.步长)
[SLOW] PLC50Hz: 20.0msec. × (1 ~ 9) 周期(可设置为 1 个周期步长) 最大 180 毫秒。
PLC60Hz:16.7msec. × (1 ~ 9) 周期(可设置为1个周期步长) 最大150.3msec。
【自由跑】:约3次/秒~20次/秒
比较器设定范围% 测量:HI 和 LO 均为 ± 50.00% OHM 测量:HI 和 LO 均为 500 至 15000
控制信号测量开始信号:以“L"[0V]→“H"[DC12V]开始
保持信号:断开和“H"[DC12V]:自由运行,“L"[0V]:保持
判断结果信号:【LO/GO/HI】,测量结束信号【EOC】集电极开路输出max40V 100mA
周边环境温度:5℃~+40℃,湿度:85%以下
需要电源AC85V-265V,50-60Hz,约20VA
外形尺寸333 (W) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡胶脚垫等突出部分)
重量约2.5kg
标准CE 标志兼容
选项・ GP-IB
只能内置这些选项之一。
- 打印机输出
・ 换档/电磁阀电源
・ 打印机电缆



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