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日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪

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更新日期:2020-11-16

简要描述:

日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪
Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带(*为Jandel的原始类型)。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。

日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪

日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪

 

产品特点

<探头头类型>

Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带(*为Jandel的原始类型)。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。

  • (1)墨盒类型(Napson原装)  [产品图片左上]
  • (2)小模块类型 [产品图像左下方]
  • (3)6针连接器类型 [产品图片右上]
  • (4)Jandel原始类型  [产品图片右下]

Napson的4探针法电阻/薄层电阻测量仪器使用由Jandel(UK)制造的高精度4探针探头。
Jandel探头z适合用于测量需要高精度的半导体和金属薄膜的电阻和薄层电阻,并且已经经过了多年的高度评估。
*由于使用了V型弹簧,因此触针压力始终稳定。
*上下均使用珠宝导板来固定探头,因此具有出色的针间精度和稳定性。
*轴和刀头是一体的,因此对刀头的损坏很小,并且具有出色的耐用性。

日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪

测量规格

根据材料,表面条件和待测样品的形状选择类型。

<推荐参考示例>

目标样品  探头
(材料/尖duan半径) 
测针压力/书本 
硅锭块 TC-40u 200克
硅片 TC-40u 200克
虾结构层 TC-150u 100克
薄外延层 TC-150u,500u 50克
薄层如浅扩散 OS-200u,500u 50克
扩散层 OS-200u,TC-150u 100克
离子黑斑 TC-150u 50克,100克
金属薄膜 TC-150u,500u 25g,50g,100g
ITO膜  TC-150u,500u 25g,50g,100g

*可以使用上述以外的样品进行测量(导电)。

*也可以使用其他类型。
*也可根据要求提供特殊规格。

(关于产品编号)
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-针
材料:TC;碳化钨(OS; alloy合金)-
针尖半径:40μm(可能在25μm至500μm之间)-
针压力(g /书):200克(可能10克至250克)-
针间距:1.00毫米(可能0.5毫米至1.59毫米)-针
排列:线性(标准)(可能是正方形)

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