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日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测

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更新日期:2022-07-18

简要描述:

日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100
超高电阻范围:以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□
平面多点测量功能

日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测

日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100

 

产品特点

  • 超高电阻范围:以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□
  • 平面多点测量功能
  • 2D / 3D映射图像显示
  • Windows 7软件
  • 测量数据可以CSV文件格式输出
  • 由于是非接触型,因此可以不受接触电阻的影响进行测量。

测量规格

测量目标

*通常,可以测量本设备测量范围内的任何样品。请联xi我们。

・超高电阻薄膜样品(a-Si,IGZO等)

・半导体材料接近绝缘

・导电橡胶

这样

测量尺寸

尺寸:z大300 x 400毫米

厚度:z大2毫米

*我们可以自定义您的要求,例如尺寸支持。请联xi我们。

测量范围

10E + 9〜10E + 15Ω/□

 

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