日本napson非接触式电阻检测仪

发布日期：2020-11-16      浏览次数：3204

紧凑且易于操作的手动非接触式（涡流法）电阻测量仪

产品名称：EC-80



测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[抗页电阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探头类型的总范围）

*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-​​cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）

使用手持式探针的手动无损（涡流法）电阻测量仪

产品名称：EC-80P（便携式）



测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探头类型的总范围）

*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-​​cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
（5）太阳能晶片：5至500Ω/□（0。 2至15Ω-cm）

可通过个人计算机轻松操作的非接触（涡流法）电阻/薄层电阻测量装置

产品名称：NC-10（NC-20）

 

 

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探头类型的总范围）

*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-​​cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）

DUORES手持式薄层电阻测量仪（2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头]）

产品名称：DUORES



测量目标

半导体/太阳能电池材料相关（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
硅基外延，离子与
半导体相关的进样样品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）

薄膜，玻璃，纸材料等
通常，可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低电子玻璃
•碳纳米管，石墨烯材料
•金属材料（纳米线，网格，网眼）
•其他