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更新日期:2026-06-22
简要描述:
日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜
| 品牌 | 其他品牌 | 类型 | 数字式 |
|---|---|---|---|
| 测量范围 | 1 | 产地 | 进口 |
日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216

消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜
* 1线性度是
显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。 位移量
为±0.2%
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
(测量误差因位移量而异)
重复性/ 0.05μm
(使用升降器重复上下触控笔)
测量分辨率/ 0.01μm
线性度/±0.2%* 1
可以改变测量压力(z小测量压力0.14N)
米/ R30超硬球面
测量范围/ 200μm * 2
测量架/测量表面Φ50陶瓷制成
输出/模拟和RS232C
电源/ AC100V
选件/
・软件・数据打印机・更换笔
·真空台·外部置零开
* 2根据被测物体的材质,测量范围可能会改变。
*注意* HKT-1240已因放大器单元的停产而停产。HKT-1216将替代HKT-1240。