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日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216

访问次数:57

更新日期:2020-12-02

简要描述:

日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216
消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜

日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216
类型数字式测量范围1

日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216

消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜

* 1线性度是
  显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。  位移量
 为±0.2%
/ 100μm±0.2μm
  位移量/ 500μm±1μm
  位移量/ 1000μm±2μm
  (测量误差因位移量而异)

  • 重复性/ 0.05μm
    (使用升降器重复上下触控笔)
  • 测量分辨率/ 0.01μm
  • 线性度/±0.2%* 1
  • 可以改变测量压力(z小测量压力0.14N)
  • 米/ R30超硬球面
  • 测量范围/ 200μm * 2
  • 测量架/测量表面Φ50陶瓷制成
  • 输出/模拟和RS232C
  • 电源/ AC100V
  • 选件/
    ・软件・数据打印机・更换笔
    ·真空台·外部置零开         
  • * 2根据被测物体的材质,测量范围可能会改变。

*注意* HKT-1240已因放大器单元的停产而停产。HKT-1216将替代HKT-1240。

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