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日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列

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更新日期:2021-04-01

简要描述:

日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列
通常,为了测量片材的宽度方向上的厚度分布,检测系统由扫描仪携带并进行测量。通常使用激光位移计作为不接触地测量厚度的手段,但是如果将激光位移计安装在扫描仪上,则其传送的精度远远低于激光位移计的精度,从而导致结果。高精度测量是困难的。

日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列
类型数字式测量范围1

日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列

这是使用β射线(beta射线)的测厚仪(膜厚计)。以非接触方式(β射线)测量薄片和板状物体的厚度和密度(基本重量)。通过直接与参考物质比较来计算厚度和密度(基本重量),而不是直接测量厚度。
 通常,为了测量片材的宽度方向上的厚度分布,检测系统由扫描仪携带并进行测量。通常使用激光位移计作为不接触地测量厚度的手段,但是如果将激光位移计安装在扫描仪上,则其传送的精度远远低于激光位移计的精度,从而导致结果。高精度测量是困难的。
 另一方面,在诸如β射线测厚仪之类的通过透射衰减来估计厚度的方法中,测量了空气层-样本-空气层与渗透之间的衰减,但是样本的衰减远大于空气的影响,运输的影响仅表现为空气层厚度的变化,并且影响很小。因此,可以高精度地进行测量。

β射线测厚仪的一般特点

  1. 基本重量可以在不依赖于元素的情况下进行测量。

我们的β射线测厚仪与常规β射线测厚仪相比的特点

  1. 无需设置资格或控制区域(带显示的身份验证设备)
  2. 检测单元和β射线源单元紧凑,轻便,甚至可以安装在狭窄的地方。

采用

  • 塑料膜(多层挤出膜等)
  • 电池电极(锂离子电池(负极/正极),镍氢电池等)
  • 玻璃纤维布
  • 陶瓷片
  • 铜箔,铝箔,不锈钢箔

日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列

贝塔射线测厚仪SB-1100


β射线测厚仪SB-1100的规格
 
物品规格
姓名贝塔射线测厚仪SB-1100
测量方法Beta射线透射法
验证码设置114(带显示的认证设备)
检测方式闪烁检测器方法
测量间距标准2mm(可提供更细的间距)
扫描宽度标准150-3000mm(也可提供其他宽度)
扫描速度15-200毫米/秒(标准)
框架结构O型等各种镜框
测量范围0-200克/平方米2
光斑尺寸约φ8.0mm(标准)(上班)
Beta射线源80 x 110毫米x 235毫米(标准)
检测单元80 x 110毫米x 235毫米(标准)
电源100V单相1kVA

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