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日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200

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更新日期:2022-06-14

简要描述:

日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200
1线性度是显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。

日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200
类型数字式测量范围1

日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200

模型:FT-A200 标准型/ FT-A200R 薄膜型
(FT-A100的后继型号)

带有高精度测量头和放大器单元的机器

* 1线性度是

  显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。  

位移量

 为±0.2%

/ 100μm±0.2μm

  位移量/ 500μm±1μm

  位移量/ 1000μm±2μm

  (测量误差因位移量而异)

* 2根据被测物体的材质,测量范围可能会改变。

  • 重复性/ 0.05μm

    (使用升降器重复上下触控笔)

  • 测量分辨率/ 0.01μm

  • 线性度/±0.2%* 1

    (它是测量头的精度)

日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200

  • FT-A200测量范围/ 10μm至200μm * 2

    FT-A200R测量范围/ 3μm至100μm * 2

  • 测量压力/ 0.3N(标准)可以改变测量压力

  • 主机/放大器单元/测量头配置

  • 输出/模拟和RS232C

  • 尺寸/ 260(H)x 300(W)x 309(D)*主体

  • 重量/约10公斤*主体

  • 电源/ AC100-240V

  • 选件/

    ・软件・数据记录器・更换笔

    ・ PC ・图表打印机




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