YP-250I半导体行业用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期:2024-03-24 访问量:472
YP-250I晶圆表面瑕疵检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期:2024-03-24 访问量:470
YP-250I高照度卤素强光灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期:2024-03-24 访问量:507
YP-150I卤素强光灯 用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵检查的照明光源,微小瑕疵也可被检测出来
更新日期:2024-03-24 访问量:1006
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵检查的照明光源,微小瑕疵也可被检测出来
更新日期:2024-03-24 访问量:922
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵检查的照明光源,微小瑕疵也可被检测出来
更新日期:2024-03-24 访问量:441
日本sena玻璃晶圆目视检查灯185LE 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2024-03-24 访问量:452
日本sena硅玻璃表面异物检查灯185LE 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
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日本sena玻璃表面划痕检查灯185le 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
更新日期:2024-03-24 访问量:415
日本sena晶圆表面清洁度检查灯185LE 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
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日本sena电子行业用检查灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
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日本sena电子行业用卤素灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
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日本sena表面检查用卤素灯185LE 高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。
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