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YP-150I表面检查灯 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：1346
YP-150I目视检查灯 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：1374
YP-150I卤素强光灯 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：3591
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：2552
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：1272
日本sena玻璃晶圆目视检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1296
日本sena硅玻璃表面异物检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1135
日本sena玻璃表面划痕检查灯185le 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1095
日本sena晶圆表面清洁度检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1134
日本sena电子行业用检查灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1067
日本sena电子行业用卤素灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1172
日本sena表面检查用卤素灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：3793
日本mcrl透光度雾度计HM-150N 雾度计可消除光源的偏振特性，并*地减少仪器误差！
更新日期：2024-03-24 访问量：1375
日本mcrl雾度计反射率计HM-150N 雾度计可消除光源的偏振特性，并*地减少仪器误差！
更新日期：2024-03-24 访问量：1533
日本bunkoukeiki单色仪M50 高分辨率单色仪，焦距为500mm，波长为200nm至25μm。
更新日期：2024-03-24 访问量：1273
