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日本ccsawaki微型大功率LED光源FOLS-09 光学测量仪
日本ccsawaki微型大功率LED光源FOLS-09 紫外线、蓝色、可见光和红外区域提供各种波长，因此您可以根据您的应用选择最合适的波长。
更新日期：2024-03-23 访问量：938
日本ccsawaki光纤输出型光源FOLS-08 光学测量仪
日本ccsawaki光纤输出型光源FOLS-08 FOLS-08是光纤输出型光源，使用内部脉冲电路反复发射最大1MHz的脉冲光。
更新日期：2024-03-23 访问量：900
ccsawaki光纤输出型半导体激光光源FOLS-07 光学测量仪
ccsawaki光纤输出型半导体激光光源FOLS-07 FOLS-07是一种光纤输出半导体激光光源，通过外部驱动发射脉冲光。
更新日期：2024-03-23 访问量：924
ccsawaki反射率/透射率测量的光源FOLS-05 FOLS-05是一种光纤输出宽带光源，通过将三种类型的LED元件组合成一根光纤来输出它们。
更新日期：2024-03-23 访问量：880
日本ccsawaki超发光光源FOLS-04 FOLS-04是一款集输出SM光纤、隔离器、SLD元件、驱动电路、温控电路、电源于一体的超发光光源。
更新日期：2024-03-23 访问量：951
日本ccsawaki紧凑型高功率激光光源FOLS-03 光学测量仪
日本ccsawaki紧凑型高功率激光光源FOLS-03 FOLS-03是集成了输出光纤、半导体激光元件、驱动电路、温度控制电路和电源的紧凑型高功率激光光源。
更新日期：2024-03-23 访问量：972
日本ccsawaki半导体激光元件光源FOLS-02 光学测量仪
日本ccsawaki半导体激光元件光源FOLS-02 FOLS-02是集输出SM光纤、半导体激光元件、驱动电路、温控电路、电源于一体的紧凑型半导体激光光源。 只需打开电源，SM光纤端就会立即输出毫瓦量级的激光。 由于半导体激光元件是温度控制的，因此长时间具有出色的输出稳定性和波长稳定性。
更新日期：2024-03-23 访问量：1071
日本ccsawaki超紧凑型 LED 光源FOLS-01 光学测量仪
日本ccsawaki超紧凑型 LED 光源FOLS-01 只需打开电源，LED灯就会立即从光纤端输出。 LED 元件允许根据应用从白色、紫外线、可见光和红外区域选择波长。 外部TTL输入也可用于闪烁火焰。
更新日期：2024-03-23 访问量：991
日本ccsawaki光纤输出型 LED 光源FOLS-06 光学测量仪
日本ccsawaki光纤输出型 LED 光源FOLS-06 FOLS-06 是一种光纤输出型 LED 光源，可通过外部准备的电源或函数发生器进行模拟调制。
更新日期：2024-03-23 访问量：1111
日本ccsawaki光纤输出LED光源FOLS-10 光学测量仪
日本ccsawaki光纤输出LED光源FOLS-10 LED 元件允许根据应用从白色、紫外线、可见光和红外区域选择波长。 输出光纤可以选择用于高功率的 600 μm 芯石英光纤或用于细光束的 200 μm 芯石英光纤。
更新日期：2024-03-23 访问量：980
日本horiba浸入式浊度仪HU-200TB-IM 光学测量仪
日本horiba浸入式浊度仪HU-200TB-IM HU-200TB-IM 与浸入式浊度 SS 传感器 （SS-150） 结合使用，以测量浊度和 SS 管理。 传感器可以直接浸入样品罐中。 非常适合管理废水和进水量的浊度和SS。
更新日期：2024-03-23 访问量：1512
日本union研发台式光刻设备EMA-400 该产品是一种节省空间且易于操作的掩模对准器，具有高性能和低成本，使其成为大学和企业实验室的理想选择。
更新日期：2024-03-23 访问量：1205
likuan will用于 OIS 的光学传感器FD-1067 光学测量仪
likuan will用于 OIS 的光学传感器FD-1067 它是一种光学传感器，使用两个激光器同时测量倾斜、行程和行程。 倾斜和行程测量使用落射照明。 此外，还可以使用反射光同时进行行程测量。
更新日期：2024-03-23 访问量：1408
likuan will自动对焦的光学传感器TD-1090 光学测量仪
likuan will自动对焦的光学传感器TD-1090 它是一种光学传感器，使用两个激光器同时测量倾斜和行程。 倾斜测量使用落射照明。 此外，还可以使用反射光同时进行行程测量。
更新日期：2024-03-23 访问量：1671
optiworks 4D技术动态干涉仪PhaseCam6000 光学测量仪
optiworks 4D技术动态干涉仪PhaseCam6000 具有“动态干涉测量”（30微秒标准）的超快干涉测量4D Technology“动态干涉测量”可以在振动不可避免的地方以及远处移动的物体和样品进行测量。
更新日期：2024-03-23 访问量：2476
