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日本ARK检查高照度型检查灯AT-50C 功耗80W和1，400，000Lx！ *1 它具有简单的设计和调光音量。 它可以用作金属卤化物灯的替代品。
更新日期：2024-03-23 访问量：1528
日本ARK目视检查的立式白光LED光源LS-HF-W 光学测量仪
日本ARK目视检查的立式白光LED光源LS-HF-W 这是一种用于目视检查的立式白光LED光源。 由于自然散热，不会产生灰尘，使其成为洁净室的理想选择。
更新日期：2024-03-23 访问量：1446
日本ARK用于检查的白色 LED 光源 LS-HF-1.5 光学测量仪
日本ARK用于检查的白色 LED 光源 LS-HF-1.5 这是一款用于检查的白色 LED 光源，由于其无风扇设计，具有出色的安静运行。 它不会排放灰尘，非常适合在洁净室中使用。
更新日期：2024-03-23 访问量：1420
日本ARK标准光源250W Hg-Xe灯AT250S 光学测量仪
日本ARK标准光源250W Hg-Xe灯AT250S 它是配备250W Hg-Xe灯的标准光源。 它可用于广泛的应用，例如暴露和附着力、化学反应评估和表面处理。
更新日期：2024-03-23 访问量：1421
日本ARK表面照明LED光源 MS-80 它是一种光源，可以将光以高度均匀性照射到任何区域和形状。 光学设计使照射均匀性达到3%或更低。
更新日期：2024-03-23 访问量：1369
日本ARK线照明UV-LED光源LS-180 这是一种UV-LED光源，以线条形状发射高强度紫外线。 我们提供满足您需求的光源，例如线长、宽、波长和紫外线强度。
更新日期：2024-03-23 访问量：1428
LS-1-RAL3日本ARK用于半导体标线对准的UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK用于半导体标线对准的UV-LED光源LS-1-RAL3 这是一种UV-LED光源，用作标线对准的照明。 通过切换到独立的LED照明进行标线对准，可以照射具有高稳定性和长寿命的高质量光。
更新日期：2024-03-23 访问量：1484
日本ARK表面辐照通用UV-LED光源 MS20LX-365 光学测量仪
日本ARK表面辐照通用UV-LED光源 MS20LX-365 它是一种UV-LED光源，可以高强度照射Φ20~30mm区域。 UV-LED 灯头紧凑地组合了多个 LED，可有效照亮所需区域。
更新日期：2024-03-23 访问量：1375
日本ARK点照射UV-LED固化灯LS-4C 它是使用紫外光固化粘合剂粘合光学元件和非常小的部件的理想选择。 此型号专为独立使用而设计。
更新日期：2024-03-23 访问量：1442
SF-IR54-4-406日本ARK液晶面板周边曝光的UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK液晶面板周边曝光的UV-LED光源SF-IR54-4-406 这是一种用于液晶面板周边曝光的UV-LED光源。 通过将使用UV灯和光导的传统方法改为UV-LED头方法，大大有助于延长光源的使用寿命并降低维护成本。
更新日期：2024-03-23 访问量：1371
EW04S日本ARK高输出型晶圆外围曝光UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK高输出型晶圆外围曝光UV-LED光源EW04S 用于g线和i线光刻胶晶圆外围曝光的UV-LED光源。 光学设计可实现 7，000 mW/cm² 或更高的高输出。
更新日期：2024-03-23 访问量：1429
EW01S日本ARK用于晶圆外围器件曝光的UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK用于晶圆外围器件曝光的UV-LED光源EW01S 用于g线和i线光刻胶晶圆外围曝光的UV-LED光源。
更新日期：2024-03-23 访问量：1310
日本ARK点照射通用光源AGIL-V 它是使用紫外光固化粘合剂粘合光学元件和非常小的部件的理想选择。
更新日期：2024-03-23 访问量：1073
YP-150I/YP-250I日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯 光学测量仪
日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯YP-150I/YP-250I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-23 访问量：1221
YP-150I/YP-250I日本yamada半导体行业用目视检查灯 光学测量仪
日本yamada半导体行业用目视检查灯YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。 因使用鹵素光源灯的光源，具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
更新日期：2024-03-23 访问量：1536
