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日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

访问次数:72

更新日期:2020-11-16

简要描述:

日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES
DUORES手持式薄层电阻测量仪(2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头])

日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

 

产品特点

易于携带和测量的手提式薄层电阻测量仪:DUORES

根据测量目标交换并使用两种类型的探头(非破坏性和接触型)。

•世界首chuang的便携式薄层电阻测量装置,可以替换和使用两种类型的探头(非破坏性和接触型) •
只需放置/应用探头即可自动进行测量
•电池连续工作时间:24小时(*电池)使用时)
•显示的数据数量:z多100(*从新数据显示)

•保存的数据数量:z多50,000(*软件显示)
•测量数据传输功能:USB-Mini
•显示:3种类型的显示单位(Ω/□,S /□,n / m [金属膜厚度转换]), 4位浮点少数点(0.000至9999)

日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

测量规格

测量目标

薄膜,玻璃,纸材料等
通常,可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低电子玻璃
•碳纳米管,石墨烯材料
•金属材料(纳米线,网格,网眼)
•其他

测量尺寸

不论尺寸和厚度如何均可测量
(*大于每个探头的测量点尺寸)

<测量点>

・无损探棒(涡电流型):φ25mm

・接触式探头(4种探头类型):9毫米

测量范围

・无损探棒(涡电流法):0.5 -200Ω/ sq
・接触探棒(4探针法):0.1 -4000Ω/ sq

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