专为半导体制造等高精度行业设计的露点仪TK-100
TK-100是一款专为半导体制造等高精度行业设计的露点仪,主要用于监测和控制气体或环境中的水分含量。以下是TK-100的主要特点、技术参数和应用场景:
高精度测量
TK-100采用先进的传感器技术,能够实现高精度的露点测量,确保半导体制造过程中的气体和环境湿度符合严格的要求。
宽测量范围
该露点仪具有宽广的测量范围,通常覆盖从-100°C到+20°C的露点,适用于多种半导体制造工艺。
快速响应时间
TK-100具有快速的响应时间,能够实时监测气体或环境中的水分变化,确保及时调整和控制。
抗污染能力强
在半导体制造环境中,可能存在各种化学污染物。TK-100设计有抗污染能力,能够在恶劣环境中稳定工作。
易于集成
TK-100支持多种通信协议,易于与现有的监控和控制系统集成,方便用户进行数据采集和分析。
用户友好界面
该露点仪配备直观的用户界面,操作简单,便于用户进行设置和监控。
测量范围:-100°C to +20°C 露点
精度:±2°C 露点
响应时间:<10秒(达到90%的最终读数)
工作温度:-20°C to +50°C
输出信号:4-20mA, RS485, Modbus RTU
电源供应:24VDC
防护等级:IP65
洁净室监控
TK-100用于监测洁净室中的露点,确保环境湿度符合半导体制造的要求。
气体纯度检测
在半导体制造过程中,使用的高纯度气体(如氮气、氩气)需要严格控制水分含量。TK-100用于检测这些气体的露点,确保其纯度。
工艺气体监控
在薄膜沉积、蚀刻等关键工艺中,TK-100用于监控工艺气体的露点,防止水分影响产品质量。
压缩空气系统
压缩空气中的水分会影响设备性能,TK-100用于监测并保持系统干燥。
储存和运输
半导体材料和气体在储存和运输过程中需要保持干燥,TK-100用于监控环境条件。
高可靠性:TK-100设计用于长时间稳定运行,减少维护需求。
多功能性:适用于多种气体和环境条件,具有广泛的应用范围。
易于维护:模块化设计使得传感器更换和校准变得简单方便。
TK-100露点仪凭借其高精度、快速响应和抗污染能力,在半导体制造设备中发挥着重要作用。它能够有效监控和控制气体和环境中的水分含量,确保半导体制造过程的高质量和稳定性。