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光学薄膜与晶体材料检测利器:LUCEO LSM-9002LE应力仪应用案例

  • 发布日期:2025-08-20      浏览次数:34
    • 光学薄膜与晶体材料检测利器:LUCEO LSM-9002LE应力仪应用案例

      在现代光学制造和材料科学领域,残余应力是影响产品性能的关键因素之一。无论是光学薄膜的均匀性,还是晶体材料的稳定性,细微的应力分布不均都可能导致透光率下降、折射率偏移甚至结构开裂。日本LUCEO公司推出的LSM-9002LE全自动应力仪,凭借其高精度二维分析能力,成为行业认可的检测解决方案。以下通过实际案例解析其应用价值。

      案例1:光学薄膜镀膜工艺优化

      问题:某光学企业生产AR(抗反射)镀膜玻璃时,发现批次产品存在局部彩虹纹现象,传统方法无法定位应力异常点。
      LSM-9002LE解决方案:

      • 通过205×205mm大范围扫描,快速生成薄膜应力2D分布图,锁定彩虹纹对应的高应力区域(延迟值超80nm)。

      • 结合软件横截面分析功能,发现应力集中与镀膜机喷口温度梯度相关。
        结果:调整镀膜参数后,应力均匀性提升40%,不良率下降至0.5%以下。

      案例2:蓝宝石晶体切割质量控制

      问题:蓝宝石衬底在切割后出现边缘微裂纹,传统偏光镜检测效率低且无法量化。
      LSM-9002LE优势体现:

      • 利用1100×1100像素分辨率,精准识别切割路径上的应力集中点(延迟值突变≥50nm区域)。

      • 3D应力云图直观显示裂纹源位于晶体斜切面与主轴方向夹角偏差处。
        结果:优化切割刀具角度后,边缘应力峰值降低60%,良品率提高至98%。

      案例3:树脂镜片注塑成型监测

      挑战:注塑成型镜片因冷却速率不均导致双折射问题,影响成像清晰度。
      LSM-9002LE的创新应用:

      • 全自动测量模式下,单次检测仅需20秒,实现生产线每10分钟抽检1次。

      • 通过直方图统计功能,量化不同冷却温度下的应力标准差(σ从12nm降至4nm)。
        效益:建立最佳工艺窗口后,产品光学均匀性达到ISO8980-1标准。

      为什么选择LSM-9002LE?

      1. 全自动化:减少人为误差,适应生产线高频检测需求;

      2. 量化输出:CSV数据支持SPC统计过程控制;

      3. 跨材料兼容性:玻璃、塑料、晶体、薄膜均可覆盖。

      结语:从实验室研发到量产管控,LSM-9002LE以1nm级重复精度和可视化分析能力,成为解决材料应力问题的“工业CT"。如需获取定制化检测方案,请联系LUECO中国区代理(北崎国际贸易/深圳秋山贸易)提供技术支持。



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