针对锂电隔膜/光学膜行业：FT-D200高精度测厚解决方案

发布日期：2025-08-25      浏览次数：25

引言：行业痛点与核心需求

在锂电隔膜和光学膜等高技术薄膜制造领域，厚度及其均匀性直接决定产品的核心性能与最终良率。

• 锂电隔膜：厚度的微小偏差会影响离子导通性、机械强度和电池的一致性，甚至引发安全隐患。均匀的厚度是保障电池能量密度、循环寿命和安全性的基石。

• 光学膜（如增亮膜、扩散膜、偏光片）：厚度均匀性是影响光学性能（如亮度、雾度、均匀性）的关键。任何瑕疵都会在终端显示屏上形成缺陷（如牛顿环、亮暗点），造成巨大损失。

传统接触式测量或抽样检测方式已无法满足：

• 易造成损伤：接触式测头会划伤隔膜和光学膜娇贵的表面。

• 测量滞后：离线抽样无法实现100%全检，发现问题时为时已晚，造成大量废品。

• 数据不全面：无法提供全幅宽、连续不断的厚度剖面数据，难以进行精准的工艺优化。

日本富士ワーク（Fujiwork）FT-D200激光连续测厚仪，正是为解决这些行业痛点而生的解决方案。

一、 为何FT-D200是此类行业的理想选择？

1. 绝对的非接触测量，实现“零损伤"

• 采用先进的激光扫描原理，测量头与被测膜材不发生任何物理接触，杜绝了因测量而对高价值膜表面造成的划伤、压痕等次生伤害，保护产品价值。

2. 精度，捕捉每一个微小变化

• FT-D200拥有±0.1μm级的超高测量精度和分辨率，能够清晰捕捉锂电隔膜或光学膜生产中微米级甚至亚微米级的厚度波动，为工艺调整提供最准确的数据基础。

3. 高速全线扫描，100%质量监控

• 激光束每秒进行数千次高速扫描，可对膜材的整个幅宽进行无缝式、连续不断的测量，生成完整的横向厚度曲线（CD Profile）和纵向厚度曲线（MD Profile），实现真正的全线质量监控，无遗漏。

二、 FT-D200带来的核心价值与收益

1. 提升产品一致性，打造高品牌

• 通过实时监控与反馈，确保每一平方米的膜材厚度都严格控制在公差范围内，极大提升产品整体一致性和可靠性，增强客户信任度，打造高市场口碑。

2. 显著降本增效，节约原材料

• 精准控制：通过对厚度趋势的实时分析，可以及时调整模头螺栓、温度等工艺参数，将平均厚度稳定控制在目标值下限附近，在保证质量的前提下，有效减少原料消耗。

• 减少废品：实时报警功能能在瑕疵品大量产生前即刻发现异常，指导操作人员快速干预，大幅降低废品率和返工成本。

3. 工艺优化与数据追溯，驱动智能制造

4. 强大的数据分析软件提供CP/CPK等统计指标，量化生产过程能力，为持续工艺改进提供科学依据。

   
   

   **全面的数据记录与追溯**功能，可将厚度数据与生产批次、时间一一对应，便于质量追溯和问题根源分析。
   

5. 为实现闭环自动控制（APC）奠定基础

• FT-D200可开放通信接口，与挤出机、模唇、拉伸设备等联动，根据实时厚度数据自动调整工艺参数，构建全自动厚度控制系统（APC），减少人为误差，迈向“无人化"智能生产。

三、 应用场景实例

• 在锂电隔膜产线上：FT-D200安装在纵向拉伸（MDO）或横向拉伸（TDO）之后，对湿法或干法隔膜的基膜和涂层后的成品膜进行100%在线监测，确保其厚度均匀性满足电池客户的要求。

• 在光学膜产线上：安装在挤出流延或涂布固化之后，实时监测光学基材和功能涂层的厚度，防止因厚度不均导致的光学缺陷，是生产高品质显示组件不可少的“火眼金睛"。

结论：投资于精准，收益于未来

对于锂电隔膜和光学膜这类“失之毫厘，谬以千里"的高精尖行业，对生产过程中每一个环节的精确控制都至关重要。Fujiwork FT-D200高精度连续测厚仪不仅仅是一台测量仪器，更是一个强大的过程质量控制与优化平台。

它帮助企业从“事后检验"转向“事前预防"，从“经验驱动"转向“数据驱动"，最终实现更高的产品质量、更低的生产成本和更强的市场竞争力。选择FT-D200，就是为您的膜材生产线装备上可靠的质量守护神。