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在微观缺陷决定产品质量的现代制造业中，一盏专业的高亮度照明灯，往往是提升良品率的关键。
在电子、液晶显示和半导体制造行业中，产品的质量控制和缺陷检测至关重要。山田光学YP-150I高亮度卤素光源装置凭借其照明性能和精准的缺陷检测能力，成为这些行业不可少的质量控制工具。
YP-150I是日本山田光学专为精密工业检测设计的高亮度卤素光源装置。它能够在半导体晶片及液晶基板加工过程中，高效检测出加工表面上的异物、划痕、研磨不均、雾度、滑移等各种缺陷，为宏观观察提供超高亮度、高均匀性的照明解决方案。
在半导体制造过程中，YP-150I主要用于检测硅晶片、砷化镓、碳化硅等半导体材料的表面缺陷。
其超过400，000 Lux的照度能够发现仅有精密探测仪才能测出的微小瑕疵，显著提升检测效率和准确性。该设备特别适用于6英寸半导体晶片的检测工作。
对于液晶基板的表面外观检查，YP-150I表现出色。其高均匀性的照明能够清晰呈现玻璃表面的微小划痕、抛光不均和雾状缺陷，
帮助操作人员肉眼识别以往难以发现的质量问题，大幅减少人工检查的盲区。
在精密电子元件制造领域，YP-150I为质量控制提供了可靠的照明保障。其高色温（3400K）、照明不均少的特点确保了观察效果的稳定性和锐利度，
使得微小缺陷无所遁形，有效降低不良品流入下游工序的风险。
山田光学YP-150I集成了多项先进光学技术，确保其在工业检测中的性能：
超高照度：提供超过400，000 Lux的照度（照射面积30mmφ），足以检测最微小的表面缺陷
优质光源：采用卤素灯作为光源，色温高达3400K，照明均匀性佳，提供稳定而锐利的照明效果
冷镜技术：使用冷镜后，热影响降低到传统铝镜的1/3，减少热效应对检测样品的影响
智能切换：通过两级切换机构，一键切换高照度观察和低照度观察，适应不同检测需求
灵活调节：光束直径可在30-50mm之间调整，底部开关可调节照明高度，操作简便，光量可控
| 参数 | YP-150I | YP-250I |
|---|---|---|
| 照射范围 | 30mmφ | 60mmφ |
| 照度 | ≥ 400，000 Lux | ≥ 400，000 Lux |
| 照射距离 | 140mm | 220mm |
| 光源 | 卤素灯（使用冷镜） | 卤素灯（使用冷镜） |
| 灯型 | JCR15V150W（牛尾） | ELC24V250W（欧司朗） |
| 寿命 | 50小时 | 35小时 |
| 色温 | 3，400K° | 3，400K° |
| 色调 | 白色 | 白色 |
| 环境温度 | 0～40℃ | 0～40℃ |
| 冷却方式 | 强制排气冷却 | 强制排气冷却 |
| 连接 | 12φ安装轴 | 20φ安装轴 |
| 尺寸（灯箱部分） | 100(W)×245(H)×116(D)mm | 120(W)×388(H)×130(D)mm |
| 重量（灯箱部分） | 约1.7kg | 约2.7kg |
*表：YP-150I及YP-250I主要技术规格对比*
YP-150I在半导体和液晶行业的应用范围广泛，涵盖多个关键工艺环节：
晶圆表面缺陷检测：及时发现硅片表面的异物、划痕等缺陷
光刻工艺中的表面检查：确保光刻前基板表面无瑕
化学机械抛光（CMP）后的表面检查：验证抛光效果，发现抛光不均问题
晶圆切割和封装前的最终检查：作为出厂前的最后质量关口
研发与实验室应用：为材料研究和工艺开发提供精准观察手段
质量控制与良率提升：贯穿整个生产过程，帮助持续提升产品良率
选择山田光学YP-150I高强度卤素灯作为您的检测照明解决方案，意味着您将获得：
降低对精密探测仪的依赖，节省设备投资成本
操作简便，检测人员能够快速上手使用
长寿命设计，虽然卤素灯寿命有限（50小时），但维护更换简便
成熟的冷却系统，确保设备长时间稳定运行
山田光学YP-150I高亮度卤素光源装置是电子、液晶和半导体行业质量控制的理想选择。其超过400，000 Lux的照度、均匀稳定的照明效果以及人性化的操作设计，使其成为表面缺陷检测领域强者。
无论是用于生产线上的批量检测，还是研发环节的精密观察，YP-150I都能提供可靠的光学支持，帮助企业提升产品质量，降低生产成本，增强市场竞争力。
