一文读懂！Shibuya-opt MSP-100 系列三款反射率仪怎么选？

发布日期：2026-01-18      浏览次数：5

Shibuya-opt MSP - 100B、MSP - 100IR、MSP - 100UV 三款反射率测定装置核心区别在于测量波长范围与适配传感器，选型核心是匹配应用的波段需求，同时结合精度、样品特性与场景选择。下面从核心参数、应用场景及选型逻辑展开说明。

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一、核心参数对比

参数	MSP - 100B	MSP - 100IR	MSP - 100UV
测量波长	350-1100nm（可见光为主）	900-1700nm（近红外）	230-800nm（紫外 - 可见光）
核心传感器	背照式 CCD 传感器	InGaAs 传感器	背照式 CCD 传感器
测量再现性（B 型）	±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm）	±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm）	±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm）
测量 S/N 比（B 型）	1000:1（400-900nm）	1000:1（400-900nm）	1000:1（400-900nm）
测量光斑（10× 物镜）	φ50μm	φ50μm	φ50μm
样品曲率半径	-1R 至 +∞（可测曲面）	-1R 至 +∞（可测曲面）	-1R 至 +∞（可测曲面）
核心优势	可见光波段高精度，适配常规光学检测	红外高灵敏度，适合半导体、红外元件检测	紫外波段精准，适配光刻胶、UV 涂层等检测

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二、三款产品核心区别解析

1. 波段定位差异

• MSP - 100B：覆盖可见光及少量近红外，是通用型可见光反射率测量方案，适合多数常规光学元件（如镜头、AR/AG 镀膜玻璃）的日常检测。

• MSP - 100IR：聚焦近红外波段，针对红外光学材料、半导体晶圆、红外传感器等，能精准捕捉红外波段反射特性，适配红外器件研发与质量控制。

• MSP - 100UV：延伸至紫外波段，适配紫外敏感材料，如光刻胶薄膜、UV 固化涂层、紫外光学滤镜等，满足半导体光刻、紫外光学元件的高精度检测需求。

2. 传感器适配

• MSP - 100B/UV 用背照式 CCD，在可见 / 紫外区灵敏度高、信噪比优；MSP - 100IR 用 InGaAs 传感器，保障红外波段高灵敏度，匹配其波段测量需求。

3. 共性优势

   三款均具备 φ50μm 微小光斑测量能力，采用半反射镜技术可消除背面反射，无需背面处理即可测薄至 0.2mm 的样品，支持曲面与平面测量，操作软件友好，测量快速且重复性强。

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三、选型指南

1. 按应用场景选型

   应用场景	推荐型号	选型理由
   光学镜头、AR/AG 镀膜、常规显示面板	MSP - 100B	可见光波段覆盖全面，满足常规光学产品反射率检测需求
   半导体晶圆、红外传感器、红外光学元件	MSP - 100IR	近红外波段适配，匹配红外器件反射特性分析需求
   光刻胶、UV 涂层、紫外滤镜、PCB 光刻工艺	MSP - 100UV	紫外波段精准测量，适配紫外敏感材料检测
   跨波段复合检测	组合选型（如 B+UV/B+IR）	根据实际波段覆盖需求，搭配两款设备实现全波段检测

2. 按样品特性选型

• 微小区域（φ50μm）、超薄样品（0.2mm，20× 物镜）、曲面样品：三款均可，优先按波段选择。

• 低反射率样品：三款通过光学设计提升集光效率，搭配高灵敏度传感器，均可快速稳定测量，按波段匹配即可。

3. 按精度需求选型

• 451-950nm 波段对精度要求高（±0.02%）：三款均可满足该波段精度；380-450nm/951-1050nm 精度为 ±0.2%，若侧重紫外 / 红外边缘波段，优先对应型号（UV/IR）。

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四、选型决策流程

1. 明确核心测量波段，确定基础型号（B/IR/UV）。

2. 确认样品特性（尺寸、厚度、曲面 / 平面、反射率），三款均适配微小 / 超薄 / 曲面样品，无需额外筛选。

3. 核对精度需求，重点关注目标波段的再现性指标。

4. 若需跨波段测量，可组合两款型号，覆盖更宽光谱范围。