在半导体、生物医药、精密光学等高精尖制造领域，微米级异物就是影响产品良率、触发质量风险的 “隐形杀手"。一片肉眼不可见的 5μm 粉尘，可能导致晶圆划伤报废、芯片短路失效；一丝微小纤维或微粒，可能让药品不符合 GMP 洁净要求、引发安全隐患。传统照明设备亮度不足、光谱单一，难以捕捉细微缺陷，让企业长期面临 “漏检、误判、返工、损耗" 的痛点。
日本 CSC NP-5 目视检查灯，以军1工级光学性能、多光谱智能切换、洁净室专属设计，成为高精度目视检测的标1杆设备，真正实现 5μm 微小异物清晰可见，从源头杜绝晶圆划伤、药品微粒污染等问题。
一、硬核光学实力：5μm 异物无所遁形，检测精度碾压传统光源
NP-5 搭载35W HID 高亮光源，输出高达3400 流明，亮度是普通 LED 检测灯的 3 倍，配合精准聚光光学设计，在全暗环境下也能呈现极1致清晰的检测画面：
表面附着异物：稳定识别 5μm 微小颗粒，远优于普通灯光仅能检出≥50μm 异物的局限；
空中悬浮微粒：清晰捕捉 10μm 浮尘，利用廷德尔现象让微尘无处隐藏；
缺陷呈现：晶圆表面细微划痕、玻璃基板压痕、精密部件瑕疵，均能清晰显像。
对半导体行业而言，它能提前拦截导致晶圆划伤的微尘；对制药行业，它能快速定位灌装线、药瓶、胶塞的微小微粒与纤维污染，把质量风险扼杀在源头。
二、三光谱模块化切换：一台覆盖全场景检测需求
区别于单一功能检测灯，NP-5 支持三档光谱一键切换，兼顾常规检测、光敏材料、隐形污染三大场景：
标准白光模式：通用微米级颗粒、划痕、表面缺陷检测，适配绝大多数目视巡检；
紫外线截止模式：屏蔽＜400nm 紫外光，保护光刻胶、液晶面板等光敏材料，安全检测不损伤产品；
纯紫外 365nm 模式：激发有机残留、油污、荧光粉尘、胶痕等隐形污染物显影，定位肉眼完1全不可见的污染。
一台设备满足常规检查 + 光敏防护 + 荧光显影三重需求，无需多设备切换，大幅降低企业设备投入与操作成本。
三、洁净室专属设计：合规安全，适配高1端制造严苛环境
NP-5 严格按照ISO 14644-1 Class 5高洁净室标准打造，从材质到结构全面适配半导体、制药、精密光学等无尘车间要求：
防静电机身：表面电阻＜10⁹Ω，避免静电损伤芯片、吸附粉尘，符合产线 ESD 防护规范；
低污染轻量化：灯头仅 200g，单手便携操作，机身无挥发、无粉尘脱落，不破坏洁净环境；
专业认证：光源通过德国 TÜV 认证，寿命长、稳定性高，满足长期连续巡检需求。
四、核心行业应用：精准解决两大领域痛点
1. 半导体 / 面板行业：守护晶圆良率
2. 生物医药 / 医1疗器械行业：守住药品安全
五、NP-5 核心价值总结
✅ 超高精度：5μm 异物清晰可见，彻1底告别漏检；✅ 一机多用：三光谱覆盖全场景，减少设备投入；✅ 洁净合规：防静电 + Class 5 洁净标准，适配高1端产线；✅ 高效实用：轻量化手持设计，提升巡检效率。 无论是半导体工厂守护晶圆品质，还是制药企业保障药品安全，日本 CSC NP-5 目视检查灯都是微米级检测的最1优选择。用专业之光，照亮细微缺陷，用可靠性能，降低质量损耗，为企业生产良率与产品安全保驾护航。
