传感单元:内置双轴 MEMS / 电容式倾角传感器,X、Y 轴传感元件物理正交、刚性集成,确保两轴测量基准严格垂直。
同步采样:采用同一时钟源对 X、Y 轴进行同步 A/D 转换,采样间隔≤5 秒,保证两轴数据时间戳完1全一致。
实时解算:内置高速处理器,对双轴原始信号同步滤波、校准、解算,输出实时双轴角度值(角秒 /°/mm/m)。
基准统一:双轴共享同1绝1对水平基准面,测量结果可直接反映平面二维倾斜状态,而非两个独立单轴数据的简单拼接。
双轴同步测量范围:0.0000° ~ ±2.0000°(±7200 角秒)
单轴独立测量范围:0.0000° ~ ±4.0000°(±14400 角秒)
核心精度区间(0~1080 角秒):±1 角秒;其余区间:±3 角秒
分辨率:1 角秒(≤5μm/M)
同步采样率:≤5 秒 / 次(双轴数据同时刷新)
轴间正交度:≤±5 角秒(两轴测量基准严格垂直)
数据一致性:双轴数据无时间偏移,同一时刻输出完整二维倾角向量
数字显示:彩色 TFT 屏同时显示 X 轴、Y 轴角度值(角秒 /°/mm/m 可选),数值实时同步刷新。
图形显示(Smart 2D Bubble):
核心为二维 “牛眼" 靶心图,X、Y 轴偏差以矢量箭头 / 色块同步呈现。
靶心中心 =绝1对水平;箭头指向 =倾斜方向;箭头长度 =倾斜大小。
支持自动缩放,微小偏差(≤10 角秒)也清晰可见。
状态指示:同步显示测量模式(双轴 / 单轴)、单位、电池、蓝牙 / USB 连接状态。
开机默认进入双轴同步测量模式,一键切换单轴 / 双轴。
相对置零:双轴同步置零,设定自定义水平基准,适配非绝1对水平安装面。
数据保持:双轴数据同步锁定,便于记录与对比。
USB 2.0:双轴数据实时同步上传至 PC,采样率与仪器一致。
工业蓝牙(BLE):≤30 米无线传输,双轴数据无延迟同步,支持单人远程操作。
移动 App(Digi-Pas Level Mobile):手机 / 平板同步显示双轴数据 + 2D 图形,远程监控与调试。
输出格式:Excel/CSV,包含时间戳、X 轴角度、Y 轴角度、振动值(同步记录)。
PC 软件(Digi-Pas Level Professional):
双轴实时曲线:X、Y 轴数据同屏同步绘制,直观观察倾斜变化趋势。
3D 表面轮廓:多点双轴同步测量数据,自动拟合平面 3D 形貌,分析平面度 / 直线度。
| 对比维度 | 传统单轴水平仪 | DWL-8500XY 双轴同步测量 | 优势价值 |
|---|---|---|---|
| 测量方式 | 先测 X→调整→再测 Y→调整,反复迭代 | X/Y 轴同时测量、同时显示,一次完成 | 效率提升70%+,调试时间大幅缩短 |
| 误差来源 | 两轴测量不同步,引入时间 / 空间累积误差 | 双轴同点、同时、同基准测量,无累积误差 | 精度提升1 个数量级,数据更可靠 |
| 平面判断 | 需人工拼接两轴数据,无法直观判断平面状态 | 2D 图形 + 数字同步呈现,一眼掌握平面水平 | 操作门槛降低,减少人为误判 |
| 调试效率 | 大型设备调试需2 人配合、数小时 / 天 | 单人操作、数分钟 / 小时完成 | 人力成本降低50%+,设备稼动率提升 |
| 数据完整性 | 单轴数据,无法反映二维平面特性 | 双轴同步数据,完整描述平面二维倾斜 | 支持3D 轮廓分析、平面度评估 |
应用:晶圆台、反应腔室、抛光平台双轴同步调平。
价值:±1 角秒精度,将倾斜控制在 **≤0.001°;双轴同步测量使维护时间缩短 40%,晶圆报废率下降 60%**。
应用:床身、导轨、工作台双轴同步水平校准。
价值:8 米工作台调试从2 天→4 小时,效率提升75%;消除单轴反复测量误差,加工件尺寸一致性显著提高。
应用:光学平台、激光干涉仪、坐标测量机双轴同步对准。
价值:确保设备基准严格水平 / 垂直,测量结果可追溯、可重复,支撑纳米级科研与检测。
应用:高铁轨道、航空结构件、精密平台多点双轴同步测量。
价值:同步采集 X/Y 轴数据,快速拟合 3D 表面轮廓,精准评估平面度 / 直线度,替代传统繁琐检测流程。
安装基准:仪器底面与被测面紧密贴合,采用三点支撑,避免 “跷跷板" 效应。
同步置零:在基准平面执行双轴同步置零,确保测量基准统一。
环境控制:测量时避开强振动、强磁场、温度骤变,减少对双轴传感的干扰。
数据记录:使用同步数据输出,确保 X/Y 轴数据时间戳一致,便于后续分析。
定期校准:按JQA/NIST标准进行双轴同步校准,保证长期精度稳定性。
原理革新:从 “串行单轴测量" 升级为 “并行双轴同步测量",从源头消除累积误差。
效率革命:单人、单次、实时完成平面二维测量,调试效率数倍提升。
精度保障:1 角秒级双轴同步精度,满足半导体、高1端制造、科研等微米 / 纳米级精度需求。
数据完整:双轴同步数据为3D 轮廓分析、平面度评估、工艺追溯提供完整数据基础。