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| 参数项 | 技术指标 | 说明 |
|---|---|---|
| 测量范围 | 放射率 ε=0.00～1.00 | 覆盖几乎所有固体材料 |
| 测量波长 | 2～22 μm | 远红外波段，适配常温材料辐射特性 |
| 测量精度 | ±0.01 以内 | 工业级高精度，可分辨表面处理细微差异 |
| 测量方式 | 恒温红外反射能量检测法 | 不加热样品，10～40℃室温直接测 |
| 测量面积 / 距离 | Φ15 mm / 12 mm（固定） | 探头脚柱限位，重复性好 |
| 响应时间 | 约 0.1 sec（0～63%） | 快速读数，适合批量检测 |
| 显示 / 输出 | LED 数字显示；0～0.1V、0～1V 模拟输出 | 可直读或接记录仪 / PLC |
| 使用环境 | 温度 10～45℃；湿度 35～85% RH（无结露） | 实验室 / 产线通用 |
| 电源 / 功耗 | AC100～240V，50/60Hz，30W | 宽电压适配全球 |
| 尺寸 / 重量 | 探头：Φ51×137 mm，0.6 kg；主机：156×306×230 mm，5.0 kg | 分体式，便携易用 |
| 标准附件 | 放射率基准片（ε=0.06 镜面、0.97 黑体）、收纳箱、3m 电缆 | 出厂即配校准件 |
内置恒温红外源（黑体炉）发射 2～22μm 远红外，均匀照射样品表面；
样品反射的红外能量被高灵敏度红外探测器接收；
仪器通过反射率 r换算：ε=1−r，直接计算并显示放射率；
每次测量前用ε=0.06/0.97 标准片校准，消除漂移，保证精度。
常温无损测量：无需加热 / 破坏样品，室温 10～40℃直接测，适合 delicate 样品与在线检测。
高精度 + 高重复性：±0.01 精度，可区分喷涂、阳极氧化、镀膜等表面处理的微小差异，数据可用于仿真与设计。
操作极简：一键校准、一键测量，数秒出结果，无需专业技能，产线工人也能快速上手。
稳定性强：双标准片校准，长期漂移小；分体式探头适合狭小空间或自动化工位（可配机器人电缆）。
适配广：金属、陶瓷、塑料、涂层、薄膜、石墨、碳纤维等几乎所有固体材料均可测量。
半导体：晶圆薄膜（SiN、SiO₂、低 k 介质）、封装基板、散热盖板、热界面材料的发射率测量，优化热处理温度均匀性与散热设计。
航空航天：卫星 / 航天器表面涂层、隔热材料、结构件的发射率测试，保障热控系统可靠。
能源与冶金：锅炉 / 换热器管道、保温材料、高温设备表面涂层的发射率评估，提升散热 / 隔热效率、节能降耗。
汽车工业：车灯反光杯、内饰件、电池包壳体、散热涂层的发射率检测，保障热管理与光学性能。
科研与质检：高校 / 研究所材料研发、表面工艺质控、来料检验、失效分析，数据可直接用于论文与报告。
仅限固体表面：不适用于液体、粉末、多孔材料（表面不平整会导致反射散射，误差增大）。
波长特定（2～22μm）：测量结果为该波段的法向 - 半球发射率，与红外测温仪常用的窄带发射率不可直接混用。
样品温度需稳定：样品温度波动 >±2℃时，建议静置至恒温后再测，避免温度漂移影响精度。
表面清洁度要求高：油污、灰尘、指纹会显著改变发射率，测量前需用无水乙醇清洁并干燥。
vs 传统高温法：无需加热（传统需加热到 80～100℃），无损、安全、节能、速度快。
vs 便携式红外测温仪（带发射率设定）：测温仪不能直接测发射率，只能查表或估算；TSS-5X-3 是专用测量仪器，精度高、数据可靠。
vs 其他品牌（如德国、美国）：TSS-5X-3价格更优、操作更简单、亚洲售后更完善，精度与稳定性处于一线水平。
