客户咨询热线：
15270896115
在高电阻率测量领域，仪器主机的性能固然重要，但真正决定能否完成测量的，往往是探头与样品的匹配程度。日东精工 MCP-HT800 之所以能够覆盖从标准薄膜到微小电子元件、从平板材料到细长纤维的广泛样品类型，其丰富的探头系统功不可没。
本文将深入解析 MCP-HT800 的六类专用探头，揭示它们各自的技术特点与适用场景。
MCP-HT800 采用专用 MCP 探头接口，可选配 URS、UR、UR-SS、UR-100、UA 以及 J Box X 型六大类探头。这套探头系统基于环形电极测量原理，通过恒压施加/泄漏电流测量方式，实现对材料表面电阻率和体积电阻率的高精度测定。
值得注意的是，MCP-HT800 支持前代 Hiresta-UP 系列探头的复用，这意味着已有用户可以在升级主机时保留原有探头，显著降低设备更新成本。
URS 探头是 MCP-HT800 的标准配置，也是使用频率最高的探头类型。其环形电极设计适用于塑料、橡胶、纸张、布料、薄膜、陶瓷等常规样品。URS 探头配备了专用夹具，可以轻松固定探头位置，确保测量重复性。
UR 探头的环形电极尺寸比 URS 稍大，适用于尺寸略大的样品。两款探头均采用环形电极结构，能够同时测量表面电阻率和体积电阻率，是材料研发与质检中常用的选择。
UR-SS 探头专为小尺寸样品设计，其环形电极外径仅为 10mm，能够测量大于 20mm² 的样品。
这一尺寸规格解决了许多实际测量难题。在电子元器件、微型传感器、小型电子元件等的研发与质检中，样品往往只有几毫米到十几毫米的尺寸，传统探头无法有效接触或会导致边缘效应影响测量精度。UR-SS 探头使得这些微小样品的高阻测量成为可能。
UR-100 探头是专为超高电阻测量设计的扩展型探头。其核心特点是测量表面电阻率时的校正系数为 100，因此可以测量比其他探头高一个数量级的面积范围。
当遇到电阻值超出常规量程的绝缘材料时，UR-100 探头能够将测量范围扩展至 10¹⁵ Ω/□。这一特性使其在超高绝缘材料、高性能介电材料等前沿领域的测量中具有独特1价值。此外，UR-100 探头采用自重设计，可以稳定固定在样品表面，减少操作误差。
UA 探头采用双针电极设计，两针间距为 20.0mm，针点直径 2mm，弹簧压力为 240g/针。这种设计专门针对无法使用环形电极的异形样品。
在实际测量中，许多样品由于形状特殊——如细长纤维、管状材料、不规则表面——无法与环形电极充分接触。UA 探头的双针结构可以直接接触样品表面进行测量，突破了环形电极的几何限制。
需要注意的是，UA 探头仅适用于表面电阻率测量，无法进行体积电阻率测量。这是由其双针电极的物理结构决定的。
J Box X 型探头专为符合 JIS K 6911 标准的测量而设计。对于需要出具标准检测报告或进行合规性认证的企业和机构而言，这一探头类型确保了测量方法与标准要求的一致性。
MCP-HT800 整体符合 JIS K 6911、ASTM-D257、IEC 60093 等多项国际标准，J Box X 探头的配置进一步强化了其在标准化检测场景中的适用性。
面对六类探头，用户可根据以下逻辑进行选型：
按样品尺寸选择：标准尺寸样品优先使用 URS 或 UR 探头；小于 20mm² 的微小样品需选用 UR-SS 探头。
按样品形状选择：平板状样品适用环形电极探头；细长、异形或无法平面接触的样品应选用 UA 双针探头。
按测量需求选择：需要测量体积电阻率时，必须使用环形电极探头（UA 探头不支持）；需要扩展高阻测量范围时，选用 UR-100 探头。
按合规要求选择：需要符合 JIS K 6911 标准时，选用 J Box X 探头。
MCP-HT800 的六类探头系统构成了一个完整的测量生态，从标准样品到特殊样品、从常规测量到高阻扩展、从研发场景到合规检测，均有对应的解决方案。
对于用户而言，理解各类探头的技术特点与适用边界，是充分发挥 MCP-HT800 测量能力的关键。一台主机配合多类探头，即可覆盖从防静电材料到绝缘陶瓷、从薄膜到纤维的广泛测量需求——这正是 MCP-HT800 在高电阻率测量领域保持领1先地位的重要原因。
