产品展示
PRODUCT DISPLAY
技术支持您现在的位置:首页 > 技术支持 > 可安装在量产设备中的膜厚检测仪AFW-100W

可安装在量产设备中的膜厚检测仪AFW-100W

  • 发布日期:2021-10-25      浏览次数:856
    • 可安装在量产设备中的膜厚检测仪AFW-100W

      推荐使用反射光谱膜厚计用于膜厚测量应用,例如硬涂层。

      [机理] 

      样品受到光照射时,它会根据膜厚显示出*的光谱。薄膜表面反射的光与穿过薄膜并在基板表面反射的光相互干扰。当光的相位匹配时,强度增加,而当光相移时,强度降低。反射计是一种通过分析该光谱来测量薄膜厚度的方法。

      [优点] 

      -与 SEM 和触针式轮廓仪不同,无需接触即可进行测量。
      - 与椭偏仪相比,便宜且易于使用。

      将来也可以安装在量产设备中。

      模型AFW-100W
      对于一般膜厚
      设备配置单元主体、测量台、2 分支光纤 (1.5m)、PC
      测量波长范围380-1050nm
      膜厚测量范围100nm~1μm(曲线拟合法)
      1 μm 至 60 μm (FFT)
      测量再现性0.2%-1%(视胶片质量而定)
      测量光斑直径约7mm
      光源12V-50W卤素灯
      测量理论曲线拟合法/FFT法
      外形尺寸 (mm)测量台:W150 x D150 x H115
      机身:W230 x D230 x H135
      大约重量5.5kg * 不包括 PC
      公用事业AC100V 50 / 60Hz
      轰天猛将卤素灯


    联系方式
    • 电话

    • 传真

    在线交流