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反射/透射/薄膜厚度测量系统

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更新日期:2021-06-16

简要描述:

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT
F10-RT 是一款集成了测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统。可同时测量反射率和透射率,并可轻松分析膜厚、折射率和消光系数。
只需一根 USB 线和电源线即可轻松连接,无需调整光学系统,无需复杂的设置,而且设置非常简单。

反射/透射/薄膜厚度测量系统
类型数字式测量范围1

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT

F10-RT 是一款集成了测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统。可同时测量反射率和透射率,并可轻松分析膜厚、折射率和消光系数。
只需一根 USB 线和电源线即可轻松连接,无需调整光学系统,无需复杂的设置,而且设置非常简单。

主要特点

  • 集成测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统
    光谱范围广,可选择多种光源
  • 反射率和透射率同时测量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系数
    标准维护时间记录的相机测量位置
  • 放个样品就行了。无需调整光学系统,设置非常简单

主要应用

平板聚酰亚胺、ITO、抗蚀剂、氧化膜、抗反射涂层、PET和玻璃基板上的各种光学膜
光学镀膜玻璃、眼镜、镜片等的硬质涂层。
薄膜太阳能电池CdTe、CIGS、非晶硅等

产品阵容

 模型

 F10-RT

-紫外线

 F10-RT

 F10-RT

-近红外

 F10-RT

 -近红外

 F10-RT

 -UVX

测量波长

范围

 190 – 1100nm380 – 1050nm 950 – 1700nm 380 – 1050nm380 – 1050nm

膜厚测量

范围

 1nm – 40μm15nm – 70μm 100nm – 150μm 15nm – 150μm1nm – 150μm

准确性

± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1纳米2纳米3纳米2纳米1纳米

光源

氘·

卤素

卤素

氘·

卤素

测量示例

平板中使用的透明电极ITO的膜厚和折射率的测定例
同时测定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 软件可即时分析薄膜厚度、折射率等。

 

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