光学应用测量-FFP 测量装置介绍

发布日期：2023-11-08      浏览次数：330

光学应用测量-FFP 测量装置介绍

FFP（远场方向图）测量设备是测量半导体激光器、光纤、光波导、光模块等FFP（远场方向图）的设备。

光学系统采用我司的FFP测量光学系统M-Scope type F，结合我司的各种光电探测器和光束分析模块AP013，可用于测量各种光学器件的FFP、辐射角分布、输出NA。用于分析。

通过选择光电探测器，可以构建从可见光范围到1550nm近红外波段的各种光通信系统。






产品特点

• 使用FFP 测量光学系统 M-Scope F 型

• 专用光学系统+图像处理分析方法。易于调整，可在各个角度快速分析 FFP。

• 长工作距离设计，工作距离约6mm。

• 有两种型号配备增透膜：一种适用于可见光范围，另一种适用于近红外范围。

• 近红外区域（650~1700nm波段增透膜产品）：M-Scope type F

• 可见光范围（400~650nm波段增透膜产品）：M-Scope type F/BL

• 通过选择光电探测器，可以进行从可见光范围到近红外范围的测量。

• 400~1100nm：高精度CMOS探测器ISA071、ISA071GL等

• 950~1700nm：InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041H2等

• [新] 400~1700nm：InGaAs高分辨率近红外探测器　ISA041HRA

• 光束分析模块AP013，包括分析装置、光束分析软件、检测器驱动器和校正数据。

• 多合一包装允许安装后立即使用。

• Optimetrics BA Standard，专为光束轮廓测量而开发的光束测量和分析软件

• 我公司自主研发的用于测量光束轮廓的图像处理和分析软件。还支持EF/EAF测量功能。




产品主要用途

• 各种光器件、光模块的FFP测量与分析

• 半导体激光器、光纤、光波导和光模块的 FFP 分析

• 各种光学器件和光学元件的NA测量和分析

• 光纤、光布线波导、蝶形模块等的NA分析。

• 多模光纤环向角通量分析

产品配置/元件选择

设备配置图



元件选择

• FFP 测量光学系统 M-Scope type F 系列选型

• 650~1700nm：FFP测量光学系统M-Scope F型

• 400~650nm：用于蓝色 M-Scope F/BL 型的 FFP 测量光学系统

• 红外高分辨率 FFP 光学系统 M-Scope 型 FHR

• 这是一款专用于1310~1550nm波段的红外高分辨率FFP测量光学系统。

• 探测器

• 400~1100nm：高精度CMOS探测器ISA071、ISA071GL

• 950~1700nm：InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041H2（红外激光光束轮廓测量推荐型号）

• 400~1700nm：【新】InGaAs高分辨率近红外探测器　ISA041HRA (SXGA)

• 仅 M-Scope 型 FHR：VGA 型 InGaAs 高灵敏度近红外探测器 ISA041VH

• 光束分析模块AP013

• 数据处理装置主机、检测器驱动器、光束测量分析软件Optometrics BA Standard、校正数据

• 配件

• 附带电缆、手册等

选项/配件选择

• ND滤镜

• 可见光（400~700nm）：NDF-5

• 近红外（700nm~1100nm）：NDF NIR-5

• 红外（1310nm~1550nm）：NDF IR-5

• 光学系统安装座

• 用于光纤测量的光学系统支架

• 垂直光学系统安装架

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• 我们还拥有各种光学测量系统和光学测量设备，可用于各种其他目的和应用。