反射率测量装置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP-100UV产品介绍

发布日期：2025-06-27      浏览次数：4

微小领域、曲面、极薄试样的高速、高精度测量以未有的低成本实现

涩谷光学利用与中国企业的合作伙伴关系
提供具有高性价比的反射率测量装置。



• 光斑尺寸小，可以测量微小点。

• 测量时背面的光不会渗入，因此不需要使用磨砂玻璃或黑色涂装进行消光处理。

• 可测量镜头和平面两者。

• 操作简单易用，软件界面也简洁。

• 可视光和UV采用背面照射型CCD传感器，实现了高灵敏度和信噪比

• 红外线采用InGaAs传感器，对红外区域具有高灵敏度。

• 通过采用特殊半反镜，可以切割背面反射光，无需背面处理即可在短时间内进行准确测量。
  （可测量薄板0.2㎜的反射率：使用×20倍物镜时）

• 镜头曲面、镀膜不均也能测量。（在试样面上连接微小斑点（直径50μm））

• 即使是对低反射样品也能在短时间内进行高再现性的测量。（通过的光学设计最大限度地利用光线，512像素的线性PDA，
  16位 A/D转换器内置，USB2.0接口高速运算实现快速测量）

• 可以进行色度测量、L*a*b*测量。基于分光反射率，可以进行物体测量。

• 可以以Microsoft Excel(R)格式保存数据。

• 可以对单层膜进行非接触、非破坏性测量。

• 同一画面内可显示多个测量结果，具有显示功能。测量结果的比较变得容易。

规格

型番	MSP-100B MSP-100IR MSP-100UV
测定波长	MSP-100B: 350～1100nm MSP-100IR: 900～1700nm MSP-100UV: 230～800nm
测量再现性(B型)	±0.2％(380～450nm) ±0.02％(451～950nm) ±0.2％(951～1050nm)
测定S/N比(B型)	1000:1（400nm-900nm）
试料侧N.A.	N.A. 0.12（10×物镜使用时）
试料的测量范围	φ50μm（10×物镜使用时）
试料的曲率半径	-1R～-∞、+1R～∞
表示分解能	1纳米
测定时间	数秒～十数秒（采样时间有所不同）
外形寸法	(宽)230×(高)605×(深)510毫米（仅本体）
重量	15千克
电源单元	供給电源：100-240VAC 消耗功率：80W 输出灯电压：5-10VDC 外形尺寸：(W)231×(H)130×(D)220mm 重量：2.5KG 使用温度范围：18～28℃ 使用湿度：60％以下(无冷凝现象