在半导体、面板制造等高精度检测领域,山田光学YP-250I和SENA 185LE均提供400,000 Lux的超高照度,适用于微米级缺陷检测。然而,两者的技术路线、寿命、热管理和适用场景存在显著差异,直接影响长期产线使用的选择。以下是关键对比分析:
指标 | 山田光学YP-250I | SENA 185LE |
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光源类型 | 卤素灯(冷镜技术) | 金属卤素灯 |
照度 | 400,000 Lux(60mmφ光斑) | 400,000 Lux(55mmφ光斑) |
照射距离 | 220mm | 310mm |
光源寿命 | 35小时(需频繁更换) | 3000小时(长寿命) |
热管理 | 冷镜技术(热影响降低至传统铝镜1/3) | 强制空冷(需散热系统) |
调光功能 | 两级切换(高/低照度) | 20%-100%无级调光 |
电压适应 | AC100V 50/60Hz | AC95V-260V全球电压 |
适用行业 | 半导体晶圆、液晶面板 | TFT面板、CF滤光片、触摸屏制造 |
关键差异:
寿命:SENA 185LE(3000小时)远超YP-250I(35小时),大幅降低维护频率410。
热管理:YP-250I的冷镜技术减少热辐射,适合热敏感材料;SENA需强制散热,可能影响环境稳定性36。
调光灵活性:SENA支持无级调光,适应不同材料;YP-250I仅两级切换,灵活性较低48。
YP-250I:卤素灯寿命仅35小时,需频繁更换(每周多次),增加停机时间和灯泡采购成本79。
SENA 185LE:金属卤素灯寿命达3000小时(约4个月连续使用),维护成本显著降低410。
结论:SENA更适合高负荷连续生产,而YP-250I适用于间歇性检测或短时高精度需求。
YP-250I:冷镜技术减少热辐射,适合液晶面板、晶圆等怕热材料检测35。
SENA 185LE:强制空冷可能产生轻微气流扰动,对超洁净环境(如光刻车间)或有影响68。
结论:若产线涉及热敏感材料,YP-250I更优;若环境允许强制散热,SENA的稳定性更佳。
YP-250I:固定照射模式,适合标准化检测流程9。
SENA 185LE:无级调光+宽电压适配,适合多规格产品线或全球工厂部署410。
结论:柔性生产场景下,SENA更具优势。
场景 | 推荐型号 | 理由 |
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7×24小时连续检测 | SENA 185LE | 长寿命、低维护、全球电压适配 |
热敏感材料(如液晶) | 山田光学YP-250I | 冷镜技术减少热影响 |
高反射/透明材料检测 | SENA 185LE | 无级调光优化成像 |
预算有限,间歇使用 | 山田光学YP-250I | 初始成本较低,但需备足替换灯泡 |
选SENA 185LE:若产线需要长期稳定运行、低维护、多材料适配。
选山田YP-250I:若检测对象对热敏感,或仅需短时超高亮度照明。