山田光学的YP-150I和YP-250I高亮度卤素检查灯凭借400,000 Lux超高照度、3400K色温白光及冷镜技术,在半导体、液晶面板、光学元件等多个行业的高精度检测中占据重要地位。以下是其跨行业适配性的深度解析:
YP-150I:30mmφ光斑适配6英寸晶圆,可检测0.2 μm级划痕、抛光不均及CMP工艺残留。
YP-250I:60mmφ光斑覆盖8英寸晶圆,适合大尺寸晶圆的整面扫描,提升检测效率。
冷镜技术:减少热辐射,避免晶圆受热翘曲(尤其对薄化晶圆至关重要)。
SiC晶圆:YP-150I的高对比度照明可识别表面微裂纹,避免因硬脆材料加工导致的隐形缺陷。
GaAs晶圆:3400K色温减少荧光干扰,精准检测外延层生长不均问题。
ITO镀层检测:YP-250I的60mm光斑均匀照射,识别镀层气泡、划痕,避免Mura(亮度不均)问题9。
偏光片贴合检查:400,000 Lux照度穿透高反射层,发现贴合偏移或异物。
热敏感材料适配:冷镜技术使热辐射降低至传统铝镜的1/3,避免柔性基板受热变形。
AMOLED像素检测:YP-150I的30mm光斑精准定位微米级暗点,提升良率。
镀膜缺陷检测:YP-150I识别AR镀膜的纳米级针孔,避免光学畸变。
应力分析辅助:结合偏振光检测设备(如StrainViewerSV200),YP-250I提供均匀照明,辅助内应力分布测量。
精密机加工件:检测毛刺、微裂纹(如汽车发动机部件),YP-250I的宽光斑适配曲面检测。
3D打印件:YP-150I的高对比度光路凸显层纹缺陷,优化后处理工艺。
行业 | 适配型号 | 关键应用 | 技术优势 |
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半导体 | YP-150I | Si/GaAs晶圆微缺陷检测 | 0.2 μm分辨率,冷镜防热变形 |
液晶面板 | YP-250I | ITO镀层、偏光片检测 | 60mm均匀光斑,减少Mura漏检 |
光学元件 | YP-150I | 镀膜针孔、透镜划痕 | 30mm高密度点光源,纳米级灵敏度 |
精密制造 | YP-250I | 金属/陶瓷表面裂纹 | 宽光斑适配曲面,350W高功率照明 |
小尺寸高精度(<50mm):选YP-150I(如6英寸晶圆、手机屏)。
大尺寸均匀性(>50mm):选YP-250I(如8英寸晶圆、TV面板)。
热敏感环境:优先YP系列(冷镜技术),替代传统金属卤素灯。
未来趋势:尽管LED光源在寿命(30,000小时)上占优,但YP系列的3400K全光谱与400,000 Lux照度仍是高精度检测的黄金标准,尤其在跨行业兼容性上不可替代。