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| 项目 | 参数 | 备注 |
|---|---|---|
| 核心器件 | 高输出型 850nm SLD（超发光二极管） | 兼具高输出与低相干性 |
| 中心波长 | 850nm±20nm | 适配 850nm 主流光互连场景 |
| 输出功率 | 约 2mW（APC - SM 光纤端） | 满足高灵敏度测量需求 |
| 光谱宽度 | 半峰全宽约 30nm（典型值） | 宽光谱适配多维度检测 |
| 功率稳定性 | 1 小时内≤0.5%，12 小时内≤2%（老化后） | 元件温控 + APC 电路保障长期稳定 |
| 光学接口 | FC/APC（单模光纤） | 适配主流测试系统，低回损设计 |
| 工作模式 | 连续波（CW） | 支持长时间不间断测量 |
| 核心优势 | 低相干性、高稳定性、宽波段输出 | 有效抑制反射干扰，适配精密测量 |
低相干抗干扰设计：SLD 的低相干特性大幅降低测量中反射光干扰，尤其适合光纤对准损耗、聚合物波导插入损耗等易受反射影响的场景。
高精度稳控系统：集成元件级温度控制与自动功率控制（APC），在环境波动下仍能维持功率与波长稳定，满足工业长期在线测试与科研高精度实验需求。
宽光谱适配性：30nm 典型半峰全宽覆盖 850nm 波段关键谱段，适配近场光斑（NFP）、远场光斑（FFP）等空间特性测量，以及多模光纤 / 波导的带宽评估。
高兼容性接口：FC/APC 单模光纤输出，可直接对接光功率计、光谱仪、光器件测试平台，适配自动化测试系统集成。
聚合物光布线波导插入损耗测量：低相干性规避波导端面反射误差，宽光谱适配不同波导结构的损耗评估，助力车载、数据中心光互连链路验证。
光纤对准与耦合损耗测试：低反射干扰特性提升对准精度，适配多芯光纤、阵列波导等高精度耦合场景，保障光模块封装良率。
NFP/FFP 测量：宽光谱输出配合光斑分析系统，实现光器件近场、远场光斑分布与发散角测量，用于光模块、光纤连接器的质量管控。
多模光纤带宽与损耗评估：850nm 波长匹配多模光纤通信窗口，宽光谱可模拟实际传输光源，用于光纤链路的一致性测试。
光探测器响应度标定：稳定输出与宽光谱适配光电探测器的光谱响应测试，为探测器研发与生产提供标准光源。
无源光器件（耦合器、分路器）插损 / 回损测试：低相干性降低测试系统的串扰，提升插损测量精度至 0.01dB 级别。
光学相干断层扫描（OCT）：低相干光源适配生物组织、材料内部结构成像，850nm 波段在浅表层成像中兼顾穿透性与分辨率。
光纤传感系统：宽光谱输出可提升分布式传感（如 OTDR 改进型）的空间分辨率，适配结构健康监测、温度 / 应变传感等场景。
光谱分析辅助光源：用于近红外光谱仪的校准，或作为宽波段激发光源，适配材料光学特性研究。
相比 LD 光源：SLD 低相干性规避反射干扰，宽光谱适配多参数测量，适合复杂链路测试。
相比 LED 光源：输出功率更高（约 2mW vs 百 μW 级），稳定性更优，适配高精度测量。
相比同波段 SLD 光源：温控与 APC 协同设计，12 小时稳定性≤2%，满足工业级长期测试需求。
场景匹配：优先用于 850nm 光互连测量、光器件高精度测试、低反射干扰需求的场景；若需更高功率（如＞5mW），可考虑定制化模块。
系统集成：搭配光功率计、光谱仪时，选用 FC/APC 接口适配，减少回损影响；建议预热 1 小时后进行精密测量，保障数据稳定性。
维护要点：避免长时间空载输出，定期清洁光纤端面，防止灰尘导致的功率波动与器件损伤。
