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在光互连技术飞速发展的今天，光电路板（Optical Printed Circuit Board, OPCB）作为实现板级光互连的核心载体，其性能评测的准确性直接关系到整个系统的传输质量。然而，许多工程师在OPCB的插入损耗、均匀性等关键参数测试中，常常面临一个棘手的难题：测量结果中出现莫名的波动或纹波，导致数据失真、重复性差。这背后的元凶，往往是传统光源的强相干性所带来的干涉噪声。
现在，synos（シナジーオプトシステムズ）推出的LSS002/850 850nm高输出SLD光源，以其独特的宽谱、低相干、高功率特性，为OPCB的精准评测提供了一个“所见即所得"的理想解决方案。
OPCB内部包含复杂的聚合物光波导、耦合器及多个连接界面。当使用相干性高的激光二极管（LD）作为测试光源时，光线在这些多路径结构中传输，容易产生自干涉效应，形成所谓的“散斑"或干涉纹波。
这些噪声信号会叠加在真实的损耗曲线上，使工程师难以判断：眼前的波动，到底是波导本身的工艺缺陷，还是光源带来的虚假信号？
LSS002/850给出了答案。 其核心是一颗超辐射发光二极管（SLD），它兼具了LED的宽谱特性（典型值30nm，FWHM）和LD的高输出特性。30nm的半高全宽意味着极低的相干性，能够有效抑制多光束干涉。用它测量OPCB，你得到的不再是布满噪声的起伏曲线，而是真实、平滑、反映器件本征特性的损耗数据——这才是真正的“所见即所得"。
抑制了干涉噪声，还需要足够强的信号来穿透OPCB的复杂光路。
LSS002/850在保持低相干性的同时，提供了高达约2mW的输出功率（APC-SM光纤输出端）。这一特性在测量长距离或高密度集成的光波导时尤为重要。足够的光功率保证了接收端具有出色的信噪比（SNR）和动态范围，即使是微小的损耗变化也能被清晰捕获，让“精准评测"不止停留在口号上，而是落实在每一组数据中。
对于研发阶段的反复验证，或是量产线上的批量测试，光源的长期稳定性是保证数据一致性和重复性的基石。
LSS002/850内置了精密的自动功率控制（APC） 和自动温度控制（ATC） 电路。根据实测数据，在开机老化1小时后，其输出功率在1小时内的变化小于0.5%，12小时内的变化小于2%。这意味着，无论是进行长时间的老化实验，还是跨批次的产品抽检，LSS002/850都能为你提供一个恒定、可靠的参考基准，有效避免因光源漂移导致的误判。
凭借上述特性，LSS002/850在多个高精度测量领域展现出卓1越价值：
光电路板（OPCB）插入损耗测试：真实反映光路损耗，无干涉噪声干扰。
聚合物光波导评估：宽光谱平滑特性，便于评估波导的传输均匀性和带宽性能。
多模光纤及无源器件测试：作为稳定的宽谱光源，适用于耦合器、分路器、光开关等器件的插入损耗和回波损耗测量。
近场/远场光斑分析：低相干性确保光斑分布图像清晰、无散斑，有助于精准分析出光特性。
在追求高速、高可靠性的光互连时代，测试工具的精度决定了研发的效率和产品的质量。synos LSS002/850 SLD光源，凭借其宽谱低相干、高功率输出、超1强稳定性的三重优势，不仅解决了传统测试中的干涉噪声痛点，更为OPCB等精密光器件的评测树立了新的标准。
