微米瑕疵无所遁形｜UIH 系列超高辉度检测照明，点亮精密制造质检新高度

发布日期：2026-05-29      浏览次数：11

在半导体、光学玻璃、精密元器件等高1端制造领域，1μm 以下微气泡、微划痕、内部异物、表面雾度，一直是困扰目视检测的 “隐形杀手"。普通照明亮度不足、光路不均、易漏检误检，严重拉低良率与品质。

日本インテックス匠心打造的UIH 系列超高辉度检测用照明装置，以丁达尔效应为核心，用极1致强光与专业光学设计，让微缺陷清晰显形，人人都能快速、稳定完成高精度目视检测，成为产线与实验室的质检利器。

---

一、核心优势：强光 + 专业光学，缺陷一眼可见

1. 超高亮度，击穿盲区

• 采用定制高辉度卤素灯，搭配大口径非球面透镜，中心亮度最高可达60 万 lux，光路规整、平行度优异，微弱瑕疵瞬间强化对比。

• 亮度与照射径成平方反比，小光斑更高亮，按需调节不浪费光效。

2. 专业光学，精准成像

• 非球面透镜优化设计，UIH‑1/2/3 亮度型 F 值0.78–0.92，高亮聚光；UIH‑1H 专用雾度检测型F=2，聚焦成像，投射 3 条检测标记，靠对比度精准判定晶圆雾度。

• 抛物面冷反光镜，光效更高、散热更优，长时间稳定工作。

3. 安全耐用，工业级可靠

• 灯箱与电源分体设计，散热独立、操作更安全。

• 强制空冷 + 过热监控：UIH‑2/3 型超温自动熄灯，冷却至 40℃自动停扇，全面保护光源与设备。

• 缓启缓灭点灯逻辑，大幅延长灯泡寿命，最高辉度寿命50–75 小时，半辉度寿命最长1800 小时，降低使用成本。

4. 灵活适配，全场景覆盖

• 照射径、高度、角度自由可调，支架分自立型 (UIH‑1/1H) 与独立型 (UIH‑2/3)，适配不同工位与检测台。

• SCR 相位控制调光，50/60Hz 自动适配，亮度宽幅可调，满足不同材质与缺陷检测需求。

---

二、四大机型，精准匹配需求

表格

型号	功率	典型亮度	核心用途
UIH‑1C/H	15V 150W	中心 60 万 lux	通用微瑕疵 / 晶圆雾度专用检测
UIH‑2C	100V 300W	中心 40 万 lux	中大面积光学件、玻璃检测
UIH‑3C	100V 650W	中心 30 万 lux	大尺寸晶圆、面板、精密组件检测

---

三、一器多用，覆盖全品类检测

• 不透明镜面体（晶圆 / 金属 / 掩膜）：斜射查表面尘点、划痕；反射查起伏、微裂纹。

• 透明材料（玻璃 / 透镜 / 石英）：垂直 / 斜射，表面 + 内部缺陷同时观测，微气泡、杂质一目了然。

• 特殊场景：室内浮尘检测、透明容器化学反应 / 混合状态观测、抛光晶圆雾度判定。

---

四、为什么选择 UIH 系列？

• 看得清：丁达尔效应 + 超高辉度，1μm 级微缺陷不再漏网。

• 用得稳：工业级温控、缓启缓灭、强制风冷，长期高负荷不掉链。

• 调得灵：多角度 + 宽幅调光，一台满足多材质、多工位检测。

• 更省钱：长寿命光源 + 低维护，大幅降低质检综合成本。

---

面向未来，以光守护品质

从半导体晶圆到光学镜头，从精密玻璃到高1端组件，UIH 系列以专业强光重新定义目视检测标准，让品质管控更简单、更稳定、更高效。
选择 UIH 系列，告别漏检烦恼，提升良率与口碑，为你的精密制造筑牢品1质第1道防线！